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目录 1、电容器的定义 2、电解电容器定义 3、铝电解电容器定义 4、阀金属定义 5、电解电容器分类 6、铝电解电容器的用途 7、电容器五大参数(C、tgδ、IL、U、Z)的定义 8、铝电解电容器的组成结构 9、铝电解电容器的性能特点 10、铝电解电容器电压分类 11、制造铝电解电容器各工序的工艺目的 12、制程中的四大危害离子 13、产品的主要失效模式 14、铝电解电容器的原理 15、铝电解电容器的结构图示 16、制造工艺流程图 附件一：杂质超标引起失效机理分析 附件二：套管标识 关于铝电解电容器的概述 电容器是使用最广，用量最大，又是不可取代的无源电子元件，其产量约占电子元件的40％，而铝电解电容器又占三大类电容器（电解电容器、陶瓷电容器、有机薄膜电容器）产量的56.8％。电解电容器是十年来我国发展速度最快的元件之一，目前，国内电解电容器生产总量已近250亿只，平均年增长速度高达28%，占全球电解电容器产量的三分之一。铝电解电容器发展过程，也来自集成电路、整机电路的改进和在高压、高频、长寿命、小容量应用领域中的其它电容器（如多层独石陶瓷电容器、金属化薄膜电容、钽电解电容器等）的相互渗透。为此，铝电解电容器自身也在不断的改进、完善、创新。尤其随着科学技术的发展，人们需求的提高，环境的改善，新型整机的诞生，对中高压大容量的铝电解电容器的应用领域在不断的拓宽，需求量越来越大。它不仅不会萎缩，而具有更强的生命力和更广阔的发展空间，它必将会有更快的增长速度。但近年来的发展重点有所转变。 国内对铝电解电容器最早的研究机构且贡献最大的是西安交通大学。 近几年来国内的铝电解电容品质有了很大的提升，但与国际上的先进企业相比还是有较大的差距，品质最好的还是日本企业，如RUBYCON，NICHCON等，其次是欧美、韩国企业。 从电源使用情况来看，其失效很多是是由于电容失效造成的，可以这么说，电容器(包括其它类别)的寿命在很大程度上，决定了电源的寿命。 这里需要澄清一些误解，由于电容本身不良导致的失效自然要追究电容的问题，但很多案例中也反映出电容是被动受害的，由于整机设计配套选择的合理性、过载或其它元器件的问题，在这方面需要有个正确的认识，所以如何提高，需要供需双方的共同努力。 附件一 杂质超标引起失效机理分析 电容器在使用或可靠性实验时内部杂质超标引起的失效现象，主要有：腐蚀、击穿、起鼓及漏液等。 一.腐蚀，主要有两种： 1.CL-、SO42-富集引起腐蚀，即化学腐蚀。 1.1在电场强度的作用下，CL-、SO42-向阳极区（如：阳极箔、正极引线、正极华司铆钉等）移动富集。由于曲率半径大（如：引条折叠处、铆接不实处等）的地方，电场强度也大，造成阴离子在该处富集的可能性也大。 1.2富集处，PH降低，即该处被酸化，从而进一步溶解AL造成腐蚀。 CL- + AL3+ ALCL3 ， ALCL3 + H2O AL(OH)3 +HCL， HCL + AL ALCL3 +H2 A.整个过程CL-循环使用； B.过程中要有的H2O参与，且H2O、CL-越多腐蚀越严重； C.整个反应过程放出热量和H2，增大产品温升和内压，又进一步促使整个反应进行。 2. Cu、Fe杂质粒子与AL形成原电池引起腐蚀，即电化学腐蚀。 2.1.Cu、Fe的电极电势比AL的高，且有相应电解质的参与时，有电子从AL流向Cu、Fe形成电子电流，即原电池。 2.2.过程反应式如下：AL–e- AL3+， H+ + e- H2， AL3+ + OH- AL(OH)3 A.过程中H2O以H+、OH-的形式吸附在Cu的周围，参与反应。 B.整个过程消耗了AL，生成AL(OH)3，造成腐蚀。 C.过程中没有消耗Cu，且Cu、H2O越多腐蚀越严重 D.整个反应过程放出热量和H2，增大产品温升和内压，又进一步促使整个反应进行。 二.击穿 在杂质粒子中，主要是Fe、Cu引起击穿。从根本上说，击穿就是局部电流增大造成该处发热严重而引起。一 方面：Fe、Cu会有上述的电化学腐蚀现象，形成微小局部电流且整个过程发出大量的热量。另一方面：Fe、 Cu粒子会刺压电解纸及氧化膜，造成该处耐压能力下降，从而更容易击穿。 三.起鼓、漏液 对于这两种现象，其原因基本相同。漏液是在起鼓的基础上进一步恶化，电容器外壳出现微小缝隙（一般为 铝壳防爆槽、盖板铆钉处），电解液泄出而引起的现象。 从上述可以看出，在杂质含量过多时都会引起腐蚀、甚至击穿，这些过程均会放出大量的热量，且会产生气 体，引起产品内压增大造成起鼓。 另外，杂质CL-、SO42-、Fe、Cu等均会造成产品漏电流增大，在使用或可靠性实验过程中引