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探究500kV断路器均压电容器介质损耗超标
摘要:介质损耗也称为介质损失,主要是指在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量消耗。在我国目前变电站中,介质损耗因数已经成为了反映高压断路器端口并联均压电容器绝缘性的一项重要指标。本文通过对500kV断路器均压电容器介质损耗超标的相关问题进行介绍,从而实现对绝缘整体受潮以及劣化变质等缺陷的有效避免,以此来确保变电站的安全运行。
关键词:500kV断路器 电容器 介质损耗
在对断路器均压电容器介质损耗超标情况进行测试的时候,测试现场通常都会受到高电压以及强磁场的干扰,加之一些进口的均压电容器其本身存在Garton效应。在这种情况下,如果将测试的对象选为较低电压下的相关介质损耗,那么其结果势必会受到这些因素的影响,从而不能真实的对设备的绝缘状态进行真实反映。因此,为了能够正确判断电容器的绝缘状况,开展高电压介质损耗试验是必不可少的一项工作。
1 介质损耗角测量的意义
所谓介质损耗角,指的就是在交变电场的作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角的余角,简称介损角。在对断路器均压电容器介质损耗超标情况进行研究的过程中,为了使公式与数据的分析更为方便,在对绝缘进行设计的时候,都要注意绝缘材料的tanδ值,因为tanδ值会对均压电容器的绝缘状况进行全面的反映,而且可以通过测量tanδ=f(ф)的关系曲线来判断从良状态向劣化状态转化的进程,因此可以说,对tanδ的测量是电气设备绝缘试验中的一个基本项目。除此之外,通过研究温度对tanδ值所产生的影响,还可以有效实现避免tanδ值为最大值的现象发生。由此可见,对介质损耗角的测量对均压电容器介质损耗研究方面具有很重要的意义。
2 断路器均压电容器介质损耗问题及解决措施
介质损耗角对相关工作人员了解均压电容器的绝缘状况方面具有重要的意义,因此,为了确保介质损耗角能够满足均压电容器运行的要求,就要针对其常见的损耗角正切tanδ偏大的情况进行系统的分析,从而采取科学合理的措施将其有效解决。
2.1 断路器电容器损耗的产生及tanδ值容易偏大的原因 一般情况下,导致均压电容器损耗产生的原因是因为极化损耗和电导损耗引起的。而tanδ值容易偏大的原因则是因为电容器浸渍中还有一定量的杂质,其中对tanδ值影响最大的就是离子杂质。
在液体介质正常工作的状态下,其构成电导的因素主要包括液体介质本身所含有的分子和杂质的离子所构成的电导以及液体介质中所含有的胶体质点在吸附电荷之后所形成的带电质点构成的电导两种类型。在这里,我们着重分析前一种电导结构对均压电容器损耗的影响。产生损耗的具体原因主要是在电容器当中,所涉及的元件极板之间会出现被固体介质多分隔出来的多个区域,而相关的离子会充斥在各个区域当中。在不存在外电场的情况下,这些区域中的离子没有规律的分布,并不会对能量进行消耗,但是,一旦对其进行施加电压,沿着电场方向,油中离子就会随着电场方向的交替在这些区域中进行不间断的运动,从而造成对能量的损耗。
目前,随着断路器断口开端能力的逐步提高,其额定的电压也会随着增高。然而,从目前对产品的额定工作电压下测量损耗的现状来看,其选择的对象都是较低的电压,在这种条件下,tanδ值并不能够真实的反映产品额定电压下运行时的tanδ值,必定大于额定电压时tanδ值。断路器电容器的电容值特别小,也是导致它的tanδ值容易偏大的一个主要原因。除此之外,由于极性杂质的存在,随着时间的增加,tanδ值也会逐渐变大。由于断路器电容器的一些部件上附着一些杂质,这些杂质往往会溶于或者悬浮于液体中。随着时间的推移,杂质由元件外部浸渍元件的介质之间,从而导致区域空间中的杂质就会不断增多,介质的损耗也就会随着增加,导致tanδ值越来越大。
2.2 tanδ值容易偏大的解决措施 通过上述对tanδ值容易偏大的原因进行分析,我们能够知道,如果想要将此问题进行有效解决,必须要增加产品的清洁程度,只有将产品中所含有的离子杂质最大限度的降低,才能够改善tanδ值容易较大以及随时间越变越大的问题。具体的解决措施主要包括,从对金属波纹管等零部件的清洗,因为其本身还有的杂质很容易溶于有机溶剂;对密封垫圈采用前处理方法以及在装配过程中尽可能减少杂质混入产品的可能,比如说在油装配、无法戴手套的时候,操作者手中的汗水就有可能混入溶剂中,从而对介质损耗造成影响。因此,在对tanδ值容易偏大的解决措施进行实施的过程中,对以上3个方面工作的控制是不容忽视的。
3 500kV断路器均压电容器现场高压介质损耗试验分析
3.1 500kV断路器均压电容器常规介质损耗试验 在对500kV断路器均压电容器常规介质损耗试验的过程中,
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