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单原子分子测控 徐春凯 中国科学技术大学近代物理系 如果有一天可以按人的意志安排一个个原子，将会出现什么样的奇迹？…这些物质将有什么性质？ 这是十分有趣的物理问题。虽然我不能精确地回答它，但我绝不怀疑当我们能在如此小尺寸上进行操纵时，将得到具有大量独特性质的物质。 －－费曼 1959年12月，美国物理年会 单原子分子测控的内容 成像 “看到”单个的原子分子 识别 识别所“看到”的是何种原子分子 操纵 对单原子分子的捕获、移动及转动操作 组合分解 将不同的单个粒子重新排列组合以形成新的分子或器件，或者将单分子分解为多个粒子 单原子分子成像 微观成像技术的发展 人眼的空间分辨～0.1mm 光学显微镜～?/2 对可见光，空间分辨～0.2?m X射线晶格衍射测量晶体结构 电子显微镜（透射电镜，TEM） 电子波长：50keV电子波长0.00536nm 1933年，鲁斯卡(N.Ruska)首先研制成功 空间分辨～0.2nm 单原子分子成像 场电子显微镜（FEM）与场离子显微镜（FIM） 原理 利用了电荷在导体表面分布与曲率半径的关系 场发射 场电离 单原子分子成像 1937年，E.W.Muller发明场电子显微镜 1951年，E.W.Muller研究成功场离子显微镜 单原子分子成像 扫描电镜（SEM）与扫描透射电镜（STEM） 原理 利用电子束与样品作用产生的次级电子成像 空间分辨取决于电子束的束斑大小 使用了场发射针尖的STEM，空间分辨～0.2nm 具有元素分析功能 单原子分子成像 扫描隧道显微镜（STM） 1981年，G.Binnig与H.Rohrer发明了STM 工作原理 利用了量子力学中的隧道效应。 单原子分子成像 基本构造 探针与样品 三维扫描控制器 压电陶瓷 样品粗逼近控制 减震系统 电子学系统 单原子分子成像 工作模式 恒高模式 恒流模式 单原子分子成像 空间分辨 横向分辨～0.1nm，纵向分辨～0.01nm。 单原子分子成像 扫描探针显微镜（SPM）家族 随着STM的发明，发展出一系列的由微悬臂及探针、压电扫描器和计算机控制与数据采集系统构成的扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope）。 SPM家族主要有：扫描隧道显微镜（STM）、原子力显微镜（AFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、摩擦力显微镜（LFM）、化学力显微镜（CFM）和扫描近场光学显微镜（SNOM）与扫描近场微波显微镜（SNMM）。 SPM家族可大致分类为扫描隧道显微镜（STM）、扫描力显微镜（SFM）和扫描近场光学显微镜（SNOM） 单原子分子成像 扫描隧道显微镜（STM） 实时实空间成像 表面电子态密度 扫描力显微镜（SFM） 利用针尖与样品表面的作用力来控制反馈回路进行扫描。 原子力显微镜（AFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、摩擦力显微镜（LFM）、化学力显微镜（CFM）等。 单原子分子成像 根据各种力的不同，SFM可以用来探测表面的一些特殊性质，如磁力显微镜（MFM）可以观察到材料表面的磁结构。 空间分辨 几十nm～单原子级 AFM空间分辨最高 单原子分子成像 扫描近场光学显微镜（SNOM） 工作原理 以一个孔阑限制的光纤作针尖，针尖顶部的透光孔直径小于光的波长。用这个针尖去探测样品附近的光辐射，辐射的强度反应了样品表面的光学性质（它在一定程度上反映了表面形貌）。如果针尖与样品的距离很近（近场范围），则仪器的空间分辨率不是取决于辐射光的波长，而是由针尖顶的透光孔径与针尖-样品的间距来决定。 单原子分子成像 典型光路 单原子分子成像 工作模式 恒高度模式、恒强度模式 分辨率～10nm 单原子分子操纵 概述 单原子分子操纵是指将原子分子作为一个整体进 行操作，而不涉及分子的拆分组合。单原子分子的 操纵一般包括四部分：提取、放置、移动和转动。 进行单原子分子操纵的前提是要能“捕获”到单个 的原子分子，扫描探针显微镜在这方面体现出特有 的优势。此外，利用光学方法也能够做到对单个原 子分子的操纵。 单原子分子操纵 用STM操纵单原子分子 STM主要是利用其针尖与目标原子分子的相互作用以及偏压在针尖和样品间产生的强电场来进行原子分子操纵的。通过在针尖-样品间加脉冲电压，可以对吸附在样品表面的原子分子或样品表面内的原子进行各种操纵。对脉冲幅度和宽度的调节，加上STM优秀的定位能力，使得这种操纵非常精确。人类对单原子的第一次操纵，就是在STM上实现的。 单原子分子操纵 1990年，D.M.Eigler组，用STM移动Ni（110）表面上的35个Xe原子，组成IBM三个字母。 单原子分子