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spc新方法跟过程能力
制造过程的控制
Subject 2.830
2003年春
第九讲
“SPC 图与过程能力”
2004年3月4 日
1
SPC假设
2
xbar 的例子
3
Western Electric规则 (表4-1 )
• 超限的数据点
• 超过2σ的2~3个连续点
• 连续5个点中有4个超出1σ
• 连续8个点在中心的一侧
4
失控
• 数据不是平稳的。
(μ或σ不是常量)
•过程输出被一个扰动所作用。(可指出
的或特定的原因)
•这个扰动是可以被辨识和消除的。
–趋势指出确定的类型
–与已知的事件关联
•换班
•更换材料
5
图的设计
• 样本大小n
– 中心极限定理
– ARL 的影响?
• 采样时间⊿T 样本大小和“滤波”
– 采样的成本 vs.
– 无数据的产品 对变化的响应时间
– 快速的现象
• 参考数据的选择
– S是在最小吗?
6
限制与扩展
• 需要平均
• 正态假设
• 独立假设
• 还有什么可选的?
• 缺陷
– 对数据的曲解
– 不适当的采样
7
S图的使用
• 画出样本方差
– Shewhart xbar的均值的方差(n1 )
• 它告诉我们哪些有关控制状态的信息?
– 它简单地画出了“其它” 的统计信息
8
考虑这个过程
Xbar 图
9
及其S图
10
在控制下吗?
11
随后同样这个过程
12
随后的S图
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