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SPC控制图详解 广州市太友计算机科技有限公司 1.控制图理论 控制图详解 – 术语 反映集中位置的统计特征值 平均值 X-ba r = Sum(X )/n ； i 中位数 X-mid : 一组数据按大小排列，取中间位置的数据为中 位数。 反映分散程度的统计特征值 极差 R：一组数据中最大值-最小值 ； 标准偏差 S：较准确地表示样本数据分散程度的统计特征值。 请记录! 1.控制图理论 控制图详解 – 计量型控制图  Xavg – R 图 均值—极差图  Xavg – S 图 均值—标准差图  Xmid – R 图 中位数—极差图  I – MR 图 单值—移动极差图 1.控制图理论 控制图详解 : X-R 图 Xavg – R 图 均值—极差图 Xavg- R 图是计量型数据控制图中最普通、最常用的一种形式， 由平均值Xavg控制图和极差R控制图结合在一起而构成的。 Xavg图用来观察过程均值的波动，用于位置的度量，R图用来观 察波动的散布，用于散布宽度的度量。 Xavg图和R图联合使用，可对过程状态变化作出全面的分析，可 得到较多的信息。 请记录! 1.控制图理论 控制图详解 : X-R 图例 1.控制图理论 控制图详解 : X-R 图 1.控制图理论 控制图详解 : X-R 图 1．X和R图的作图步骤：a.收集数据并制定控制图 : 收集数据 通常是按一定的周期抽取一定数量的样本，如每30分钟抽5件。测量 并记录数据。 : 计算每个样本均值X和极差R Xavg-i= （X1+X2+ … +Xn） Ri=Xmax - 式中： X1……Xn——样本内质量特性测量值,Xmax—样本内最大值, Xmin—样本内最小值 1.控制图理论 控制图详解 : X-R 图 b.计算控制界限 计算平均极差-R和过程均值—X （中心线） R = （R1+R2+ … +Rk）/ k avg Xavg-avg= （Xavg1+Xavg2+ … +Xavgk ）/ k 1.控制图理论 控制图详解 : X-R 图 : 计算极差和均值控制的上下界限 极差R 上限 UCLR=D4R avg 下限 LCLR=D3R avg 均值Xavg-avg 上限 UCLX==X + A2R avg-avg avg 下限 LCLX==X – A2R avg-avg avg 式中:D3、D4、A2为常数，可在下表中查得。