GB/T 14028-2018半导体集成电路　模拟开关测试方法.pdf

ICS 31.200 L 56 £3© 中华人民共和国国家标准 GB/T 14028—2018 代替 GB/T 14028— 1992 半导体集成电路 模拟开关测试方法 Semiconductor integrated circuits — Measuring method of analogue switch 2018-03-15 发布 2018-08-01 实 发布 GB/T 14028—2018 目 次 冃U有 I 1范围1 2 规范性引用文件1 3 术语和定义 1 4 总则2 4.1 测试环境要求 2 4.2测试注意事项 3 4.3 电参数符号3 5 参数测试4 5.1模拟电压工作范围(Va) 4 5.2 导通电阻(R<m) 5 5.3导通电阻路差(ARon) 6 5.4 截止态漏极漏电流 ［/ “刖 ］ 6 5.5截止态源极漏电流 ：/s(of0］ 7 5.6导通态漏电流DS(on) 8 5.7 开启时间(/<m) 9 5.8关断时间(gff) 11 5.9通道转换时间(仆) 12 5.10最高控制频率(/cm) 13 5.11截止态隔离度(Koirr) 14 5.12截止态馈通频率(/f) 15 5.13 导通态串扰衰减［―他 ］ 16 5.14 输入串扰衰减］ 17 5.15控制信号串扰(Uca) 18 5.16导通电阻路差率(RoN-M^ch) 18 5.17导通电阻温度漂移率(RoN_orift) 19 5.18通道转换无效输出时间(仏呻)19 5.19 电荷注入量(Qinj) 21 GB/T 14028—2018 ■ > r ■ —>— 刖 弓 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T 14028—1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》 ，与GB/T 14028- 1992相比主要技术变化如下： —增加了导通电阻路差率、导通电阻温度漂移率、通道转换无效输出时间、电荷注入量4项测试 方法（见 5.16 、5.17、5.18 、5.19）； ——修改了第4章中对测试规定的说明； ——修改了全文图、表的表述形式； ——修改了 “通道转换时间”测试方法中转换对象 “亍+ 1”为j“ ”; ——增加了对 “截止态漏极漏电流”测试方法中未定义的多路模拟开关测试说明； ——修改了 “通道转换时间测试方法”测试方法中存在图文歧义的10%含义。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会 （SAC/TC 78）归口。 本标准起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子 （北京）股份有限 公司、西北T业大学。 本标准主要起草人:张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、