GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理.pdf

UDC 621.382 ； 681.31 OB 中华人民共和国国家标准 GB T 14029 — 92 半导体集成电路模拟乘法器 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits 1 992-1 2-1 8 发布 1 993-08-01 实施 国家技术监档同发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路模拟乘法器 GB 1 14029 92 测试方法的基本原理 Gcncml principles of measuring methods of analogue multiplier for scniicuikduetor integrated circuiK 応怖准现定r半导体集附电路復拟嚴注畚 （以下简称器件戒期法器）静试方袪的电本总珅,. 和去袒与运H飲大器帕同的於态马动怎忿数團试.町签題GB 34QX半与体钺底电埒运tl （电压）放 大器利试方扶的堆本原珅5 1总的要求 1.1苦无持殊说明•側试期间•环境或©写点诅度悄离規定值灼范圈应符仟器件i节细规范的规定。 12河试期间•应攀免外界尸扰对测试倩度的朋啊•静试i丈备引起的丽试误差甩符合器件详堆规范的 规定， 1.3测迖期间 ，施于被测址件的电尊址的辅度应奇合器件详细规范的规定 1.4应 “掘件与简试系统连按政眇开时.不应超过耦件的便用极礙垂件. 1.5若H咚求时应按器件详绷规他观企的顷序接通电滦. 1.6测试期间.被測鶴件应避免岀现自激现象. 1.7若电垂数由几步测试的结果兑计耳而塢定时•这些静试的时间间隔应尽可能板. 1-8测试期I可，W■干被测器伴的信号廉内Ri在iH •号顾車下应基本W. 1-9能试期间，械側器件应按器件详细规范理宣连接外也网烙。 2慈數测试 2.1面兼徨总谋卑・ 2.11 口的 柱来法器的两令龜人电压绝对直为城大值时•测试输出电压与其设计值旳楡大相对厲楚， 2. 12測试阪理图 罔试原理图如国1所示. 国家技术监督局1 992-12-18批歿 1993-08-01 实楣 GB T 14029-92 图1 2-1-3测试条件 材试期何•下列测试条件应符合器件详细轮范的规宦. 儿环境温度I b. 电源电压； c. 输出涮负菽电阻； d. 直碱参号电压皿输出电压. 2.1测试程序 2.1- 4.1将帔测帮件按入刚试系统. 2.1- 4.2搖上负戟电殂・ Z 1-4.3按通电源. 2.1- 4.4将冏个百慷翱考电圧源输岀电压分别调到脱定輔度和正、负满欤税电圧帽度VK ,.VVw , 2.1- 4.5将和匕席入埸均按地，调节输出失调电压$1使数宇电压衣描示为牢. 2.14. 6梅X.输入蠟接地・Y ；第入端接正满员用电爪值或负橫址程电压值.调节X ：瑞的补偿电压, 使数宇电压表指示Jft小. 2. 1M.7将Y 输入础捲地,X,箱入瑞搖正濟敬程电圧值或负隅域親电伍備，岡节Y ：霸的补偿电乐， 便散宇电压衣描示K小. 2-1-4-8必要时，政复程序2.1.4.5至2.1.4.7条. 2.1.4.9 X,输人剧、丫，輸入潮均按正橫憶程电压.测岀输出电压为VOI (x 输人端接负尚址程电压. Y 输入端搔正満it程电伍•禮出输岀电B ：为叭 ；；输入酬、Y 辅入悄均接负蔽址程电压，蘭出输出电 压为V0J