射频电容测试仪0版本使用帮助.PDF

射频电容测试仪（1.0版本）使用帮助 目 录   目   录 1  一、系统简介 ‐ 1 ‐  1.1 自制低成本简易型测试校准件与夹具  ‐ 1 ‐  1.2 美国 ICM 公司批量测试校准件与夹具  ‐ 4 ‐  二、安装指南 ‐ 7 ‐  三、界面与操作 ‐ 8 ‐  3.1 启动与界面概览  ‐ 8 ‐  3.2 测试工程设置  ‐ 9 ‐  3.3 连接仪器与校准  ‐ 13 ‐  3.4 测试与数据显示  ‐ 21 ‐  3.5 工程数据文件  ‐ 24 ‐  四、技术支持 ‐ 26 ‐  四川中测微格科技有限公司 2014 年 4月 20 日 射频电容测试仪使用帮助  一、系统简介      射频电容测试仪（1.0 版本）是应用 NI Labview 开发环境，在使用商业微 波矢量网络分析仪基础上，研制的一款射频电容测试虚拟仪器。该测试仪通过使 用 NI GPIB-USB-HS 电缆连接，能够自动识别、远程控制大部分主流商业矢量网 络分析仪，包括 Agilent PNA 序列、Agilent ENA 序列、RohdeSchwarz ZVA 序 列、RohdeSchwarz ZVB序列、RohdeSchwarz ZNC序列各类型矢量网络分析仪。 1.1 自制低成本简易型测试校准件与夹具 为了实现更高精度的测试，建议用户按照 《微波高Q 多层片式陶瓷电容器》 国家行业标准，制作如下测试校准件与夹具。 （1）共面波导基板材料： 聚四氟乙烯玻璃布基板（推荐泰州市旺灵绝缘材料厂产品，军品品质) 型号：F4BK265； 介电常数：2.65 厚度：0.5 mm 铜箔厚度：0.035 mm； 类型：双面板 （2）共面波导物理尺寸： 中心条带宽度：W1=1.36 mm 缝隙宽度： S1=1 mm 长度： L1=30mm （3）校准件与测试件基片加工： 校准件与测试件基片加工如图1-1所示，上下面为镜像对称，单位为mm，Φ1 为金属化孔，上下金属面都做镀金处理，镀金厚度0.002 mm； 注意：a）目前采用匹配校准件安装的匹配负载为 mini circuits 公司的表 贴匹配负载ALMP-5075，工作频率为0-3GHz，其电压驻波比如图1-2所示。（SMA 匹配负载： ‐ 1 ‐    一、系统简介  T551P1Z01 SMA 负载（male） DC~18GHz 1.15:1 (max)1W 因此，超过该频率范围的测试，如进行矢网端口的匹配负载校准，用户需连 接矢网自带的匹配负载，而不是该匹配负载校准件。b）后续将采用高精度50Ω 微波薄膜电阻作为匹配负载，以扩展该匹配负载校准件的工作频率范围到20GHz 以上。c）直通校准件校准之后，直接焊接接地电容后变成测试件，这样可提高 ESR测试精度。 图 1-1 校准件与测试件基片加工图