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从物理角度浅谈集成电路中的几个最小尺寸 赖凯 电子科学与技术系 本科2001级 击穿模型 SiO2击穿场强 设光刻加工的线条宽度为L,为了测量和定义它,必不可少的误差为△L。由量子理论的Heisenberg测不准关系式,有 △L△P ≥ ,式中是△P粒子动量的不确定值。 隧穿效应 * * MOS场效应管 设SiO2介质薄膜厚度为d,则介质中的场强 若要使SiO2介质薄膜不被击穿,则要求 EE击穿 由前两式得 d E= 这里取 E击穿=100MV/m , VT =4V 代入 d 得 d 4×10-8m ,量级为 10nm,即 0.01um 从而 L> 对于波长?的光子,有 L光子> 取?=240nm,可得L光子的量级为10nm,即0.01um 对于能量为E,质量为m的实物粒子 L粒子 得在1000V的加速电压下,L电子量级为10-6um ,一般离子 L离子量级为10-8um 为使隧穿效应尽可能小,要求 1 透射系数 T= 即△x 当Eb=1V时△x1.9×10-9m,量级为1nm,即0.001um *
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