CT系统参数标定及成像-同济大学数学系.pdfVIP

CT系统参数标定及成像-同济大学数学系.pdf

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CT 系统参数标定及成像 摘要 CT 系统可以在不损坏样品的情况下,利用样品对射线能量的吸收特性,实现对样品 的断层成像,由此获取样品的内部结构的信息。由于精度和稳定性要求较高,所以 CT 系统在安装的时候产生的误差,往往对成像的质量影响较大。本论文通过模板对 CT 系 统进行参数标定,并借此反投影成像;通过对参数标定的精度和稳定性进行评价,并提 出新的精度较高的模板。 针对问题一:通过X 射线穿过物体后的强度公式,分析得到均匀介质接收信息和厚 度成正比。根据圆的特性和穿过圆边缘的X 射线穿过的厚度,结合勾股定理,由平均值 较为精确得求出探测器单元之间的距离为0.2768 。根据椭圆的特性,设处与椭圆相 切的X 射线的直线方程,联立椭圆方程,结合两平行相切X 射线的距离,解出直线的斜 率,继而求出180 个方向。对附件2 的接收信息进行滤波反投影,与附件1 图像进行对 比,通过平移调整反投影得到的信息,使原图像中心和像素中心重合,从而根据调整情 况求出实际旋转中心,在以正方形托盘的中心为坐标原点,以椭圆短轴所在直线为x轴, 长轴所在直线为y轴,建立直角坐标系中的坐标为(−9.1030 ,6.3448 )。 针对问题二、三:通过问题一标定了该CT 系统。根据滤波反投影法,结合问题一的 180 个方向,重建附表3、附表5 对应的图像。首先采用430 × 430像素反投影显示完整 图像,通过平移调整使图像中心和像素中心重合。对调整后的图像进行430束射线投影, 再对投影后的接收信息进行滤波反投影,采用256 × 256像素显示,确定出位置信息和 几何形状,再根据256 × 256的矩阵信息求出10 个位置的吸收率信息。 针对问题四:,问题一中参数标定的误差主要来自于与椭圆相切X 射线并不是真实相 切引起的误差。首先使用“归一化均方距离判据”和 “归一化平均绝对距离判据”来衡 量CT 系统的成像精度,并通过附表2 反投影图像与附表 1 图像计算“归一化均方距离 判据”和 “归一化平均绝对距离判据”反映问题一中参数标定的准确性。接着拟定两个 大小相同的均匀介质圆为新模板,然后人为给出一组 180 个方向数据进行radon 变换, 得到模拟的接收信息矩阵,并通过计算两圆每个方向上投影最远距离求解 180 个方向, 使用求解出方向进行滤波反投影,得到的图像与模板进行精度计算,从而得出新模板精 度。 关键词:CT 系统、radon 变换与逆变换、参数标定、影像重建 1 1.问题重述 CT 系统的优点是:可以在不损坏样品的情况下,利用样品对射线能量的吸收特性, 实现对样品的断层成像,由此获取样品的内部结构的信息。其中一种典型的系统 (如图 1)是平行入射的 X 射线垂直于探测器平面,每个探测器单元看成一个接收点,且等距 排列。X 射线的发射器和探测器相对位置固定不变,整个发射-接收系统绕某固定的旋转 中心逆时针旋转180 次。对每一个X 射线方向,在具有512 个等距单元的探测器上测量 经位置固定不动的二维待检测介质吸收衰减后的射线能量,并经过增益等处理后得到 180 组接收信息。 由于精度和稳定性要求,所以CT 系统的缺点是:在安装的时候往往存在误差,从而 影响成像质量,所以需要通过借助模板对安装好的 CT 系统进行参数标定,并据此对未 知结构样品进行成像。 图1. CT 系统示意图 图2. 模板示意图(单位:mm ) 图3. 10 个位置示意图 建立相应的数学模型和算法,解决下列问题: 问题一:图2 为放置在正方形托盘上的模板,根据附件 1 反应的吸收强度、附件2 的接收信息和模板,确定该CT 系统旋转中心在正方形托盘中的位置、探测单元之间 的距离以及CT 系统发射X 射线的180 个方向。 问题二:建立模型结合问题一求出的标定的参数,结合附件3 确定该未知介质在正 方形托盘中的位置、几何形状和吸收率等信息,并给出图3 中10个位置处的吸收率。 问题三:根据问题一标定的参数,结合附件5 确定该未知介质的相关信息,并给出 图3 中10 个位置处的吸收率。 问题四:建立评价模型(或指标)评价问题一中标定

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