磁性薄膜材料的结构和物性表征方法.pdfVIP

第 20卷 第 2期 周 口师范学院学报 Vo1．20NO．2 2003年 3月 JournalofZhoukouteacherscollege M ar．2003 磁性薄膜材料的结构和物性表征方法 杜远东，任 尚坤 (周 口师范学院 物理系，河南 周 口466000) 摘 要 ： 研究了磁性薄膜材料 的微观结构 以及宏观特性的表征方法和原理 ． 关键词 ： 磁性材料 ；结构 ；磁性测量 中图分类号 ： 04841 文献标识码 ： A 文章编号 ：1671—9476(2003)02—0016—04 M easureofm icrostructureandmacroscopic qualityofmagneticflimsmaterials DU Yuan—dong，REN Shang—kun (DepartmentofPhysics，ZhoukouTeachersCollege，Zhoukou466000，China) Abstract：Studymeasureandprincipleofmicrostructureandmacroscopicqualityofmagneticfilmsmaterials Keywords：magneticmaterials；structure；magnetism measure 对于纳米磁性材料的实验研究，主要集中在两 MFM 等手段对纳米材料进行系统地考察 ．另一方 个方面：一个是宏观层面．即材料作为一个客体处 面，也用多种手段测量 了其磁 电阻、Hall效应 、磁化 于一个观察事件中，受到外界环境激发所得到的反 强度、交流磁导率等多种宏观特性 ．然后 ，再从理论 馈参量 ．就磁性材料而言 ，其外界环境参量一般为 上去寻找它们之 间的内在关系 ． 磁场 ．即当对样 品施加一 个外加直流或 交流磁场 1 结构表征方法和原理 时，其物化性质如横 向(或纵 向)电阻率 、交流磁导 1．1 XRD方法 率 、磁化强度等也有相应 的变化．对于纳米磁性材 XRD方法被广泛地应用于材料的晶体结构表 料而言，往往有不 同于块体材料的宏观物性 ，这也 征和物相分析 ．晶体在结构上的特征是其中的原子 正是科学家和科技人员非常感兴趣的地方．另一方 在空间按一定的周期排列 ，形成一簇簇晶面，其 晶 面是微观层面．纳米材料之所 以有不同的性质 ，正 面间距 d由密勒指数 (hk1)表示 ，具有长程序 ．当入 是因为其纳米结构与传统材料完全不同．这样的材 射 x射线从 晶体 的某一 晶面簇散射而发生干涉 料在纳米的尺度上有着相当丰富的微观形态 ，也有 时 ，就可 以观察到一衍射峰 ．晶面间距为 dhkI的衍 着引人人胜的内部相互作用．正因为此，它才有特 射条件就是著名的Bragg定律 ：2 hklsin0hkl=nA， 殊的宏观特性 ． 此处 0hk】是入射 x射线与 晶面 (hk1)的掠射角， 因此，实验研究也就从这两方面来进行 ．一个 为 x射线的波长 ， 为衍射级数 ．该式要求 0k1与 是对微观结构的研 究 ，用 xRD、TEM、SEM、AFM、 相匹配 ．为了满足Bragg定律 ，要求探测器与样品 收稿 日期 ：2002．11-20 作者简介 ：杜远东(1955一)，男 ，河南杞县人 ，副教授 ，主要从事 固体材料学研究 第 20卷 第 2期 杜远东 ，等 ：磁性薄膜材料的结构和物性表征方法 ·17 · 之间有一特殊 的耦合 ，对波长 或角度 0进行扫 子束经过聚光镜照射到样品上 ，电子进人样品后发 描 ．对于特定 的 X 射线 ， 是定值 ，为 了探测 到 生散射和衍射 ，在样品的下表面 (即出射面)产生振 (hk1)晶面的衍射 ，探测器必须置于与入射 X射线 幅和位相的衬度 ，物镜以下的透镜使这些衬度成像 成 20hkl的方向，并且与样