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公式一览表
名称
公式
排列与组合
排列:
Pn=n!
组合:
0!=1
事件概率的性质
1、0≤P(A)≤1
2、P(A)+P(CsA)=1
3、若A包含B,P(A-B)=P(A)-P(B)
4、P(A∪B)= P(A)+P(B)- P(A) P(B)
若A与B互不相容,则P(A∪B)=P(A)+P(B)
(互不相容:若时间A与B没有相同的样本点,则称事件A与B互不相容,两个事件不可能同时发生。)
5、P(A∣B)=P(AB)/P(B)
P(AB=) P(A∣B)*P(B)= P(B∣A)*P(A)
6、若A与B相互独立,则P(AB)=P(A)*P(B)
(相互独立就是一个的发生与否对另一个的发生没有影响。)
离散型随机变量
均值:
方差:
标准差:
均值与方差的运算性质
E(aX+b)=aE(X)+b
Var(aX+b)=a2Var(X)
E(X1+X2)=E(X1)+E(X2)
Var(X1±X2)=Var(X1)+Var(X2)
标准差不具有可加性
二项分布
二项分布用b(n,p)表示,n为样本量,p为概率。
泊松分布
一定时间内,或一定区域内,或一特定单位内的,与计点过程相关联的概率分布。记做P(λ)
函数表达
E(X)=λ
Var(X)=λ
δ(X)=(λ)0.5
e=2.71828
超几何分布
从一个有限总体中进行不放回抽样常会遇到超几何分布。记做h(n,N,M)
函数表达:
P(X=x)=CMx*CN-Mn-x/CNn
E(X)=nM/N
Var(X)=n(N-n)/N-1*M/N(1-M/N)
标准正态分布
N(0,1)
正态分布的计算
均匀分布
p(x)=1/b-a,(axb)
E(X)=a+b/2
Var(X)=(b-a)2/12
指数分布
p(x)= λe-λx(x≥0)
E(X)=1/λ
Var(X)= 1/λ2
δ(X)= 1/λ
中心极限定理
设X1,X2,…Xn是相互独立同分布的随机变量,其共同分布为正态分布N(μ,δ2),则样本均值仍为正态分布N(μ,δ2/n)
样本与统计量
(1)样本均值:
(分组数据)
(2)样本中位数:
(3)样本极差:
(4)样本方差:
(分组数据)
(5)样本变异系数
Cv=s/xbar
三大抽样分布
t分布
t=( -μ)/s=(-μ)/ 根号下
х2分布
=∑(xi- )2/δ2
F分布
正态标准差的无偏估计
d2和c4是与样本量n有关的一个常数,查表可得。
区间估计
估计参数μ
δ已知:±u1-?αδ/
δ未知:±t1-?α(n-1)s/
估计参数δ2
比例p的置信区间:
假设检验
正态均值μ假设检验—δ已知,检验法u检验
检验统计量:
正态均值μ假设检验—δ未知,检验法t检验
检验统计量:
t= ( -μ0) /s
正态均值δ假设检验—μ未知,检验法х2检验
比例p假设检验
方差分析
1、单因子方差分析:
1)重复次数相等,即m相同
r为因子水平数,m为实验次数
2)重复次数不相等
回归分析
相关系数r
1)计算
2)相关系数的临界条件,大于临界条件,则相关系数有效
一元线性回归方程
1)方程
2)回归方程的检验:方差分析法
3)回归方程的预测
预测区间()
(精确)
(近似)
曲线回归方程的比较
试验设计
正交表Ln(qp)
n=qk,k=2,3,4…,p=(n-1)/(q-1)
抽样检验
4)过程平均:在稳定的加工过程中一系列批的平均不合格品率。
5)接收质量限AQL:可允许的最差过程平均质量水平,是允许的生产方过程平均(不合格品率)的最大值。
6)极限质量LQ:抽样检验中对孤立批规定的不应接收的批质量水平(不合格品率)的最小值。
接收概率
1、超几何分布计算法
二项分布计算法
泊松分布计算法
检验指标计算
平均检出总数ATI
ATI=nL(p)+N[1- L(p)]=n+(N-n) [1- L(p)]
平均检出质量AOQ
AOQ=k L(p)* (N-n)p/Kn
控制图
Xbar-R图
Xbar-s图
1)
2)s控制图
P控制图
过程能力
无偏移
(2)有偏移
可靠性
可靠度:产品在规定的条件下和规定的时间内,完成规定功能的概率
故障(失效)率:工作到某个时刻尚未发生故障的产品,在该时刻后单位时间内发生故障的概率
平均失效前时间MTTF(平均寿命):设N0个不可修复的产品在同样条件下进行试验,测得其全部失效时间为t1,t2…,其平均失效前时间为:
MTTF=
当产品服从指数分布:MTTF=1/λ
平均故障间隔时间MTBF:一个可修复产品在使用过程中发生了N0次故障,每次故障修复后又重新投入使用,测得其每次工作持续时间为t1,t2…,其平均故障间隔时间MTB
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