集成电路测试插座产品说明.docVIP

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\o 点击详细说明 集 成 电 路 测 试 插 座 产 品 说 明 该产品用于航空航天、军工、科研单位以 及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化 板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之 用,间距为2.54mm,8J-20J两侧跨度为7.62mm, 24J-64J两侧跨度为15.24mm: 产品型号及规格; LJZ型 \o 点击详细说明 集成电路测试插座 LJZ型 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座;LJZ-14、16、18、24、28、40 \o 点击详细说明 带板双列集成电路老化测试插座;带板LJZ-14、16、18、24 主 要 技 术 性 能 及 使 用 条 件 ?环境温度;-55℃~+155℃ 相对湿度;40 大气压力;30mmHg 振 动;f=10-50Hz 冲 击 力;30kg 工作电压;DC500V 工作电流;1.5A 接触电阻;≤0.03欧 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;2umAu:lu(镍金) \o 点击详细说明 带板集成电路测试插座 LJZ型集成电路插座结构示意图 产 品 型 号 及 安 装 尺 寸 序号 型 号 名 称 L1 L2 L3 L4 间 距 引线电镀 1 LJZ-14 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座 21 15 17 27 2.54 镍、金 2 LJZ-16 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座 23.5 18 20 29 2.54 镍、金 3 LJZ-18 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座 26 20 22 32 2.54 镍、金 4 LJZ-24 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座 34 28 30 - 2.54 镍、金 5 LJZ-28 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座 39 33 35 - 2.54 镍、金 6 LJZ-40 \o 点击详细说明 集成电路老化测试插座 54 48 50 - 2.54 镍、金

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