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第九章 光盘与光存储技术
朱京平
西安交通大学
光盘与光存储技术
• 9.1 光存储与光盘
• 9.2 只读光存储(ROM)
• 9.3 一次写入光存储(WORM)
• 9.4 可擦重写光存储(RW)
• 9.5 光盘衬盘材料
• 9.6 光信息存储新技术
WORM光盘的存储原理及结构优化
存储原理
利用激光热效应对存储介质单层薄膜进行烧蚀时,存储介质吸
收到达的激光的能量而超过存储介质的熔点时形成信息坑孔。
1. WORM光盘常以聚甲基丙烯酸脂(PMMA)为衬底,厚1.2mm,上
面溅射介质薄层
2. 用830nm激光聚焦在1m2范围内,温度呈高斯型空间分布;
3. 当中心温度超过介质熔点Tm时,介质表面形成一熔融区,表面
张力将此区拉开成孔
4. 激光脉冲撤去后孔边缘凝固,在记录介质膜上形成与输入信息
相应的坑孔。
WORM光盘的存储原理及结构优化
结构优化设计
• 入射到膜面的激光能量E E E E E E
0 0 R A T
• 一部分在界面反射(E )—加铝反射层
R
• 大部分被薄膜吸收(E )—膜层高吸收
A
• 一部分在薄膜中因径向热扩散而损失(E)
• 剩余部分透射到衬盘中(E )—加热障层
T
形成记录层、热障层和反射层三层结构存储介质
记录光的分配
。
目前,实用化WORM光盘均
为三层式,主要采用空气
夹层式和直接封闭式两种
基本结构,且均已商品化
。
WORM光盘的存储原理及结构优化
结构优化设计
1. 若要存储介质的灵敏度高,E 应尽量大,以更快更好地吸收能量
A
,使光斑中心的温度尽快超过介质的熔点,为此E 、E 及E 都应
R T
尽可能小。
2. E 要最小,必须使从记录层上下界面反射回来的光相消干涉。
R
• 由于上界面有半波损失而下界面没有,由此得记录层厚度最小值
为/2n (n :介质层折射率,:入射光波长);
1 1
• 但此时上下界面能量差很大,很难实现明显消反,为此在记录层
和衬底层之间加入一层金属铝反射层,在新的相消条件下得记录
厚度下限为/4n 。
1
WORM光盘的存储原理及结构优化
结构优化设计
3. 加铝层使E 得到明显减小,但由于铝是热的良导体,会使E 加大
R T
,为此,还应在记录层和反射层间加入一层热障层(一般选透明
介质SiO ),其折射率为n ,厚度为d 。它可以充分阻挡介质层吸
2 2 2
收的能量向衬盘传
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