LED检测技术1绪论及第一讲.pptVIP

六 其他测量技术 6. 电致发光量测（EL） 电致发光分析参数：亮度(mcd) 、正向偏压(Vf)、波长(nm)、半峰宽、反向电流、波长漂移、反向电压、抗ESD能力等等 7. 扫描电镜测量表面形貌 8. 金相显微镜测量表面形貌 LED芯片测量技术 五 邑 大 学 2014年诺贝尔物理学奖 赤崎勇 (Isamu Akasaki） 日本名城大学终身教授 中村修二） (Shuji Nakamur) 美国加州大学圣塔芭芭拉分校教授 天野浩（Hiroshi Amano) 名古屋大学教授 比窦娥还冤的Nick Holonyak 可见光（红光）LED发明者 LED产业链 应用 外延 芯片 封装 指示显示 特种照明 背光源 普通照明 基片 装饰照明 本课程的主要内容 LED芯片测量技术？ NO!!! 主要内容：LED测量技术 1. LED外延、芯片的制作工艺及检测技术 2. LED器件常用光电参数及检测原理、技术 3. LED热学特性的检测技术 4. LED灯具特性的检测方法和技术 5. LED检测新技术及发展趋势 第一讲（上） LED外延工艺及检测技术 外延技术 一、化学气相淀积法 CVD（Chemical Vapor Deposition) 普亮红、橙、黄绿色LED材料生长