高时间分辨T0用PMT性能测试研究-中国科学院高能物理研究所.ppt

高时间分辨T0用PMT性能测试研究 2010年 8月15日 中国科学院高能物理研究所 钱森 qians@ihep.ac.cn 中国科学院“核探测技术与核电子学”重点实验室 2010年全国核电子学与核探测技术学术年会 贵阳.中国 研究背景介绍； 高精度VME性能测试系统； PMT单光子谱性能研究； 通过SPE修正PMT时间分辨； 实验结果； 大 纲 本报告代表以下研究人员工作： 付在伟博士生，宁哲博士生，王志刚博士，刘曙东工程师，等； 研究背景介绍： BESⅢ E-TOF升级方案介绍； 束流实验用T0系统介绍； 如何开发高精度T0系统？ 高精度VME性能测试系统； PMT单光子谱性能研究； 通过SPE修正PMT时间分辨； 实验结果； BESⅢ E-TOF升级方案介绍 性能指标：MRPC本征时间分辨＜50ps Muon Pi electron Barrel : Design / Current 90ps / 76ps 105ps / 90ps ？/ 79ps Endcap : Design / Current 110ps / 96ps 138ps / 131ps ？/ 136ps BESⅢ TOF设计指标和目前的性能指标 桶部TOF的性能是世界上同类TOF探测器中性能最好的TOF，端盖ＴＯＦ较大的升级空间！ PMT：H6533； Scintillator：BC420； QDC：2249A（250 pC）； TDC： 2229（250 ps）； Time Resolution；76ps 束流实验用T0系统介绍-- --BESⅢ-TOF-RD-beam test T0系统 linear focussed PMTs R4998, typical gain G ～ 5.7×106 at B=0 Gauss, risetime 0.7 ns, TTS ～ 160ps, equipped with active/passive divider 。 a mu-metal shield extending 3 cm in front of the photocathode (H6533 assemblies) Copy from：《The design and commissioning of the MICE upstream time-of-flight system》-- INFN/AE-10/1 ，22 Gennaio 2010 PMT：H6533； Scintillator：BC420； QDC：V1724 (Flash ADC)； TDC：V1290 (25ps)； Time Resolution 45ps； 束流实验用T0系统介绍-- --MICE upstream time-of-flight system 束流实验目标： 利用BEPC现有的能够提供特定动量单粒子束流的试验束800MeV 试验束E3束，建立时间分辨小于40ps的束流测试系统； ①起始时间（T0）探测器， ②位置灵敏探测器， ③触发系统， ④数据获取系统， ⑤高压系统， ⑥气体系统， ⑦二维位置自动移动平台。 搭建的束流测试系统包括 束流实验用T0系统介绍-- --MRPC Beam test system 如何开发高精度T0系统？ 相同的塑闪BC420； 近乎相同的几何布局； 近乎相同的数据分析方法； 可能的答案： PMT实际工作性能差异？ 数据获取电子学精度不同？ 延时电缆对信号的衰减和畸变？ 数据处理cut条件不同？ …… 为何相同的PMT-H6533；获得的时间分辨不同？？ 通过SPE谱研究PMT性能， 找到其最佳的工作状态点； 搭建高精度VME性能测试系统； 参考时间----与入射位置是否有关系？ T0刻度----是否需要T-A，T-P修正？ RPC刻度----与l有关，需做T-A， T-P修正 ；----(斜入射时， L与角度有关， T-theta 修正) T0系统中与PMT耦合的塑料闪烁体BC420的几何尺寸为：厚度为5mm 如何开发高精度T0系统？ 研究背景介绍： 高精度VME性能测试系统； 硬件系统； 软件开发； PMT单光子谱性能研究； 通过SPE修正PMT时间分辨； 实验结果； 硬件：VME系统： 接口控制：V1718_USB_Bridge； V2718_PCI_ Bridge； Q测量单元：V965（25fC，dual range）；