课件：M阶段六西格玛绿带教材最新.ppt

一PCB生产商想评估沉银工序微蚀速度的能力。微蚀速度规格: 101± 3μ m/min。 假设每天抽取5个数据，共抽取了20天的数据，测量各样本的微蚀速率并记录在Minitab中（rating.mtw) 试求Zst,Cp,Cpk,Zlt,Ppk? 寻找计量型数据太难了! 遇上计数型数据该怎么办 缺陷数 1 2 3 4 5 6 7 计数型数据 问题: 如果你收集的是短期数据样本，然后在Minitab中进行能力分析，哪个统计量能代表过程真实的短期能力？ 计数型过程能力分析 对计数型输出的能力确定： 步骤1： 验证缺陷的定义/描述 计算缺陷数量（并计算总产量）。通常可以使用历史数据并当作长期来考虑。 步骤2： 计算缺陷的比例和PPM 步骤3： 计算Z值，适用时偏移1.5 步骤4： 估计能力指标 将Z转化成Cp，Cpk，Pp，Ppk 缺陷数据确认 计算PPM 计算Z值 计算Cpk，Ppk Total Units:35000 5000 60000 15000 20000 练习：用下面的Pareto图，计算Intrepid交付无缺陷产品的能力 不合格点数 计算PPM 计算Z值 计算Cpk，Ppk 计数型过程能力分析 1、验证缺陷的定义/描述 2、计算缺陷数量（并计算总产量）。通常可以使用历史数据并当作长期来考虑。 假设：每一个产品有一个缺陷机会 Intrepid产品缺陷数量：4000 Intrepid产品总产量：35000 计算缺陷比例和PPM Proportion of defects=0.1143 PPM=0.1143*1,000,000 =114,300 PPM 缺陷比例=0.11473 PPM=0.1143*1,000,000 =114,300 PPM Total Units:35000 5000 60000 15000 20000 步骤2：计算PPM 计数型过程能力分析 计算Z值，适用时偏移1.5σ 在缺陷率为11.43%时，ZLT=1.204 步骤3：计算Z值 估计能力指标 将Z转换成Cpk Ppk Cpk=ZST/3=0.9013 Ppk=ZLT/3=0.4013 步骤4：计算Cpk，Ppk 练习:同上例 路径:StatQuality ToolsCapability AnalysisBinomial 计算每单位缺陷（DPU） 计算每百万机会缺陷（DPMO） THANK YOU SUCCESS * * 可编辑 * * * * * * * * * * * * * 计量型 计数型 客户的要求 装配时间（Min） 客户的要求 110 115 120 125 130 135 140 缺陷 （＞130Min） 无缺陷 （130Min) 缺陷数 1 2 3 4 5 6 7 短期数据 无特殊原因 仅受普通原因的影响 从小范围数据收集而来 从一个班次收集而来 仅使用一台机器 仅有一个操作者 仅使用一批原材料中的元件 很少过程具备提供真实短期样本的能力 很少数据采集系统具备真实的能力 长期数据 反映了普通原因和特殊原因的影响 从大范围数据收集而来 从许多生产班次而来 使用许多机器 使用许多机器 有许多操作者 从大多数过程所收集的数据都代表长期过程 注意：长期能力sigma是总体sigma。 LSL USL 长期能力 短期能力 长期 短期 标准差大 偏离目标值 标准差小 达到目标值 通常长期和短期Sigma水平相差1.5σ ZLT=ZST-1.5 短期能力 长期能力 短期数据 -1.5 长期数据 +1.5 ZST ZLT ZST ZLT 要知道 收集了 一个处在中心位置的6Sigma过程 过程能力 LSL USL 0.01 ppm 0.01 ppm 初始过程数据 给出的是短期6 σ 换成长期： 6σ-1.5σ=4.5σ ZLT=ZST-1.5 Sigma水平 短期DPMO 长期DPMO 1 158655.3 691462.5 2 22750.1 308537.5 3 1350.0 66807.2 4 31.7 6209.7 5 0.3 232.7 6 0.0018