超声波扫描(C-SAM或SAM).pdfVIP

赛宝实验室 李工 超声波扫描(C-SAM) ： 介绍Introduce： 超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称，又称为SAM (Scanning Acoustic Microscope) 。 此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。 原理 Principle: 利用纯水当介质传输超声波信号，当讯号遇到不同材料的界面时会部分反射及穿透，此种发射回波强度 会因为材料密度不同而有所差异，扫描声学显微镜就是利用此特性，来检验材料内部的缺陷并依所接收 的信号变化将之成像。 检测项目（Test items ）： 1.一般用于封装內部介面是否有分层(Delaminaiton) 或裂縫(Crack)，SAM 原理上可以检测到0.13 μm 的微 小缺陷。 2.塑料封装IC 的结构分析 IC package level structure analysis 3.PCBA 板上IC 的质量分析 IC package quality on PCBA level 4.PCB/IC 的基材结构分析 PCB/IC subs