基站等通信产品设计中的高速数字测试解决方案;目录;;Page 4;高速ADC测试方法;基于FFT的频谱分析方法;用频谱分析方法测量的ADC参数; 用MSO9000做DAC/ADC电路的调试;;目录;Page 11;DDR DRAM 内存技术的发展 ;DDR测试困难点 1: 测试内容多,时序/抖动容限小 ;DDR测试困难点 2 : 读写时序复杂 ;DDR测试困难点 3 : 难以探测;BGA探头适配器 ;使用Infiniiscan进行读写分离;安捷伦DDR测试方案;DDR1,2,3 自动化测试软件;DDR自动化软件界面图示 - 1;DDR自动化软件界面图示 - 2;目录;;CPRI/OBSAI(RP3) 的物理层--XAUI;N5431A XAUI 自动测试软件;选择测试项目;测试结果显示;目录;CPRI;CPRI Test Point;CPRI Eye and Jitter;CPRI LV-III Electrical Characteristic;10G Base-KR Electrical CharacteristicTransmitter Characteristic;Tx Measurement;测试带宽要求;Interference Tolerance Test setup;10G Base-KR Electrical CharacteristicInter
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