X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁及18个次量成分.pdfVIP

, 2011, 31(5) : 3640 M etallurgical Analysis, 2011, 31(5) : 3640 : 1000- 7571(2011) 05- 0036- 05 X 18 * , , , , ( , 315800) : 采用X 射线荧光光谱法测定铁矿石中主量成分( T e) 及 18 个次量成分( PSiO2 Al2 O3 CaOMgOMnT iO2 V2 O5 K2 OSCr2 O3 NiCoZnPbCuNa2 OAs) 以固定理 论影响系数法校正 体效应, 使各成分的适用检测范围都得到较大拓宽; 采用熔融方法制 样, 消除了试样的粒度效应和矿物效应为了避免S 的损失, 样品经预氧化后灼烧, 由软件计 算或准确测定样品的烧失量精密度试验表明, 各成分的标准偏差( SD) 为 0001% ~ 0268%方法用于铁矿石实际样品分析, 结果与其他方法结果相吻合 : 铁矿石; X 射线荧光光谱法; 全铁; 次量成分 : O65734 :A , 2009 1% ~ 4%, 6 T ePSiO2 Al2 O3 S , , [2] ( SN/ T 0832) CaOMgOMnT iO2 V2 O5 K2 O [ 3] ( ISO 9516) SN/ T 0832 2 3 2 2 2 3 Cr O NiCoZnPbCuNa OAs T ePSiO Al O CaO MgOMnT iO2 8 , ISO 9516 , , , , , [ 1] , , X , , , ( ) , 1 X 11 [ 2- 10] S4 Pioneer X ( , Bruker ) : , 4 kW; , , SC142BMP ( , , MODUTEMP ) ; XS204 ( , ) ; [ m ( Pt ) m , (Au) = 955) ] ; : ( 1055) , , X 1 :2010- 10- 15 : ( 1974- ) , , , , ; Email: hpliao@ tom. com 36 , , , X 18 . , 2