第6章热探测器.pptVIP

光电信号检测 探测器的热容量是H，它表示探测器升高一度所需的热量(J/K)。通常周围环境的热容量为无限大，整个环境温度是一致的。 探测器通过热导G与周围环境发生热交换。 如果探测器的温度比环境高ΔT，则探测器在单位时间内通过热导流向环境的热量流ΔP为 其中，热导G的单位是W/K。 当探测器接收入射光辐射功率P 时，热探测器吸收热辐射后每秒接受的热量为αP 。 其中α为热探测器的吸收率。此时探测器温度升量ΔT由下式确定 此式表示了探测器吸收的辐射功率等于每秒中探测器温升所需的能量和传导损失的能量。 通常投射到热探测器上的辐射是经过调制的，它包括一个与时间无关的直流分量P0和一个以角频率ω调制的交变分量Pωexp(i ωt) ，即 温升包括两个部分：与时间无关的平均温升ΔT0和与时间有关的温度变化ΔTω ，即 其中： 是温升与辐射功率之间的相位差 称为热探测器的热时间常数。 它对应于热探测器的响应时间。 典型的热探测器的热时间常数在几毫秒到几秒的范围内，比光子探测器的响应时间长。 增大热导G可减小τH，但增大G会导致热探测器对温度变化不敏感，探测灵敏度下降。 因此，减小热时间常数主要在降低热容量H上，所以热探测器的光敏元很小。 吸收率α代表了对入射辐射吸收过程的效率。为了提高吸收比，热探测器光敏元的表面都进行黑化。 一些表面黑化用的材料的吸收率如图。 二、热探测器的极限探测率 由于热探测器与周围环境之间的热交换存在着热流起伏，引起热探测器的温度在T0附近呈现小的起伏，这种温度起伏构成了热探测器的主要噪声源，称为温度噪声。 若热探测器的其他噪声与温度噪声相比可以忽略，那么温度噪声将限制热探测器的极限探测率。 探测器和环境的热交换包括辐射、对流和传导。当探测器光敏元被悬挂在支架上并真空封装时，总的热导将取决于辐射热导。 在理想情况下，光敏面是理想的吸收面，即α ＝1。这时辐射热导GR根据黑体辐射为 式中，Ad是光敏面的面积，σ为斯忒藩一波耳兹曼常数。 从此式看到，若热探测器的吸收率为常数，则其辐射热导与波长无关，而与温度的三次方成正比。当温度降低时，辐射热导将急剧减小。 热释电探测器是一种利用某些晶体材料自发极化强度随温度变化所产生的热释电效应制成的新型热探测器。 因为热释电探测器的电信号正比于探测器温度随时间的变化率，不像其他热探测器那样需要有热平衡过程，所以其响应速度比其他热探测器快得多，一般热探测器的时间常数典型值在1～0.01s范围，而热释电探测器的有效时间常数可达10-4～3×10-5s。 虽然目前热释电探测器在比探测率和响应速度方面还不及光子探测器，但由于它还具有光谱响应范围宽、较大的频响带宽、在室温下工作无需制冷、可以有大面积均匀的光敏面、不需偏压、使用方便等特点，而得到广泛的应用。 一、热释电效应 某些物质(例如硫酸三甘肽、铌酸锂、铌酸锶钡等晶体)吸收光辐射后将其转换成热能，这个热能使晶体的温度升高，温度的变化又改变了晶体内晶格的间距，这就引起在居里温度以下存在的自发极化强度的变化，从而在晶体的特定方向上引起表面电荷的变化，这就是热释电效应。 热释电效应是通过热释电材料实现的。 热释电材料首先是一种电介质，是绝缘体。在常态下具有自发电极化(即固有电偶极矩)现象，且温度变化时电矩的极性也改变，这类介质称为热电介质。 外加电场能使热电介质的自发极化矢量方向趋同，去掉外电场后，其极化特性保持不变的热电介质叫铁电体。 热释电探测器是用铁电体制成的。 机理：调制光辐射－（温度变化）－自发极化强度P变化－晶体外表面感应电荷变化－电信号（交流信号） 常态下，热电介质的自发极化现象使在与自发极化强度垂直的两个晶面上出现大小相等、符号相反的面束缚电荷。 极性晶体的自发极化通常是观察不出来的。因为在平衡条件下它被通过晶体内部传至晶体表面的自由电荷所补偿。 如果强度变化的光辐射入射到晶体上，晶体温度便随之发生变化，自发极化强度也随之发生变化，最后导致面束缚电荷跟着变化。于是晶体表面上就出现能测量出的电荷。 自由电荷对面电荷的中和作用需数秒到数小时，而晶体的自发极化弛豫时间则很短，约为10-12s。因此，当晶体温度按一定频率变化时，自由电荷来不及中和变化的面束缚电荷，晶体表面就呈现出相应于温度变化的面电荷变化，这就是热释电效应。 这说明热释电探测器能工作于交变的辐射功率之下。 （a）极间电容较大，故其不适于高速探测应用。 （b）边电极结构中，电极所在的平面与光敏面互相垂直，电极间距离较大，电极面积较小，故极间电容较小，因此，在高频运用时以极间电容小的边电极为宜。 如果