EMC电磁兼容测试.pptVIP

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仿真人体所带静电对产品之影响 待测物测试点的选择一般以维修及操作人员可接触的地方﹕例螺丝、人机接口、键盘、指示灯、连接器、控制面板等皆须测试。 试验点:所有可能接触面 接触放电+4KV, 正负极性至少各放电25次(含垂直与水平耦板)﹐测试电平从低到高依此为﹕+2KV ,+4KV将静电枪直接接触于待测物之螺丝或拆装待测物可能接触之金属部份。 空气放电+8KV﹐正负极性至少各放电10次,测试电平从低到高 依次为﹕+2KV ,+4KV﹐+8KV空气放电使用于绝缘表面,将静电枪接近待测物产生放电, 放电后静电枪亦需接触到测试点将电流导入待测物体上 试验最大重复率﹕1次\秒 判定等级﹕CriteriaB 测试环境要求 温度﹕ 15oC~35oC 相对湿度﹕30%~60% 大气压﹕86kPa~106kPa 电磁环境﹕试验室测试环境不应对测试结果造成影响。 SETUP图 SETUP照片 2:辐射敏感度(RS) 射频辐射电磁场试验用来模拟设备遭受射频辐射干扰的情形,尤其是模拟设备操作、维修和安全检查人员在使用移动电 话时可能对设备带来的影响。尽管单台移动电话的功率并不 大,但由于使用人员靠近设备,造成局部场强很高的情况屡见不鲜。其他如无线电台、电视发射台、移动无线电发射机、各种工 业电磁辐射源,以及电焊机、可控硅整流器、荧光灯等在工 作时也会对设备产生辐射现象。射频辐射电磁场的试验频率在80-1000MHz(今后上限频率 会扩展到2000MHz);试验用场强在1~10V/m之间(常用的 产品标准一般选定在3V/m和10V/m上,今后最高严酷度等 级会扩展到30V/m)。 ※英国和法国电工技术研究所的技术人员,对移动电话的辐射情况做了详细研究,发现辐射的场强与移动电话的瞬 间输出功率,以及测量点到移动电话天线的距离有关。大 体符合下述规律: E=3P1/2/d 式中P是移动电话的瞬时输出功率;d是测量点到移动电话 天线的距离。假定移动电话的瞬时功率是4W,测量点到移 动电话天线的距离是20cm,则移动电话产生的局部场强可 以达到30V/m,远大于标准的给定值。 仿真无线电波,电台讯号,雷达波对产品之影响 经由天线辐射电磁波对被测产品产生干扰 干扰频率范围:80MHz~1GHz 新标准将升级到6G 试验水平:3V/m 试验方向:待测物的 前、 后、左、右(上、 下) 测试天线为水平与垂直两种极性均需测试 使用无电波反射室(需符合16点均匀场之规定,校正16 点场强均匀度至少12点符合0至+6dB误差)  试件至天线距离为3米 振幅调变(AM 80%,1KHz) 试验时,可利用测试软件使待测物各项功能均处于正常操 作状态 频率扫描以1%步进,在每个频率点上的驻留时间不应少 于使被测物动作并作出反应所必需的时间﹐且不超过5秒。 判定等级﹕CriteriaA SETUP照片 3:EFT/B(快速瞬变脉冲串) 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验是模拟在电网里众多机械开关 切换电感性负载时所产生的干扰。这类干扰的特点是:成群 出现的窄脉冲(一群脉出现个数达到几十个乃至上百个)、 脉冲的重复频率较高(KHz-MHz级)、上升沿陡峭(ns级)、单个脉冲的持续时间短暂(10-100ns级)、幅度达到KV级。国外专家对电快速瞬变脉冲群抗扰度试验的解释是:成群出 现的窄脉冲可对半导体器件的结电容充电,当能量积累到一 定程度后可以引起线路(乃至设备)的出错。试验时将脉冲叠加在电源线(通过耦合/去耦网络)和通信 线路(通过电容耦合夹),对设备形成干扰。通常这一试验 造成设备误动作的机会较多,除非有合适的对策,否则较难 通过。 值得指出,由于静电放电和脉冲群试验所产生干扰波形的边沿十分陡峭,持续时间十分短暂,故对试验配置的规范 性要求很高。不良的配置可以对试验结果的重复性、可比 性,以及试验的严酷程度带来明显的影响,务必引起试验 人员的注意。 模拟开关切换及马达启动时所产生之噪声对产品之影响 干扰频率:5KHz or100KHz 试验水平:1.0KV 噪声脉冲型式:5/50ns 试验模式:电源线、信号线、通讯线、控制线 噪声耦合模式:直接注入与电容性线夹 试验时间:不可少于1分钟  试验方法:正负极性 参考地面之最小尺寸为1米*1米但可依待测物之尺寸大小予以适度增加 除参考地面外待测物与其它导电物质至少距离0.5米以上 电源线或讯号线与耦合器间之长度应小于或等于1米 判定等级﹕CriteriaB SETUP图 SETUP照片 4:Surge(浪涌) 雷击浪涌抗扰度试验是模拟自然界里的雷击(间接雷)对 供电线路和通信线路的影响。对于供电线路中因大型开关 切换所引起的线路扰动也用浪涌试验加以模拟。浪涌试验的特点是脉冲重复率低(

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