加速器质谱测量中粒子鉴别地新方法研究.docxVIP

弗嚣鞲№翼 ^黎嚣氍一蝌妥土．桊嚣鞭莘蹄苷 耐随卸一 榷蠲qR一‰爵n—I一工 翅驻嘲臻∽乏赢寻cI-I}{倏罢÷一受 拉瓣强趟 ●广西大学硬士学位论文 第一章 概论 于地质、水文、考古、冰川、海洋、环境科学、生物医学、核物理和天体物理 等多方面【8】。 由于本文的实验是在北京HI-13串列加速器上完成的，故下面主要介绍一 下北京HI-13串列加速器。 2、北京HI．13串列AMS装置 2-1、装置图 图1-1是北京HI．13串列AMS装置图 2．2、装置介绍 该装置主要分为四个部分9J： (1)、离子源与注入器部分 离子源是一个能装12个样品的834型负离子源。注入器由900双聚焦磁铁 (质量分辨率M，△M≥90)、预加速器组成。串列AMS中采用铯溅射负离子 源‘”j负离子流经过三对单透镜和双聚焦的900偏转磁铁的质量选择后经预加速 管加速，然后注入加速器 (2)、加速器部分 串列加速即为两级加速，从离子源引出的负离子经过从地电位向正高压加 速后，在高压电极内通过剥离器失去电子转变成正离子，再次被高压加速，这 样，一个高压利用两次，可使离子能量成倍增加，这即为串列加速原理。它相 当于两台静电加速器共用一个高压电极和一套输电系统。高压电极内部的关键 设备是电子剥离器。 负离子通常只带一个负电荷，受到正高压v加速后，获得能量eV，穿过剥 离器后，如果粒子失去电子后带有的正电荷数为z，则从高压电极到地电位， 离子获得的能量为ZeV。这样，出射离子获得的总能量为：W=(1+z)eV 串列HI。13加速器，即“重离子．13MV”加速器，其端电压为13MV，如果重离子的电荷态Z=10，则W=143MeV，这是一般静电加速器所做不到的。 (3)、高能磁分析与静电分析部分 经加速后的离子进入高能分析部分再次被选择。串列加速器的高能分析部 分主要是900磁分析器和150静电分析器(曲率半径为360cm两极板间距 30cm，极板长lOOcm，宽10cm，由铝制成，表面镀镍抛光)，它们的作用是 一2一 ●广西大学硬士学位论文 第一章 概论 用来选定被测核素离子，排除其它离子干扰，主要是排除由于剥离过程而产生 的分子碎片的干扰。它们的工作原理是带电离子在磁场中的受力偏转。磁分析 器主要是作为离子的(M／q)·(E／q)选择，静电分析器主要是作为离子的E／q 选择。其中M为粒子质量数，E为粒子能量，q为粒子所带电荷数。 (4)、粒子鉴别与探测部分 粒子鉴别与探测部分主要由粒子探测器、电子学、计算机获取组成。粒子 鉴别的目的是用不同的方法把不同z值和不同M值的粒子区别开。z为粒子的 原子序数，M为粒子的质量数。根据不同的探测对象所选择的探测器的种类也 不同。现在比较常用的探测器是气体电离室和半导体探测器等。 气体电离室是根据不同粒子通过气体时，由于它们与气体分子作用，单位 射程的能量损失率不同而对粒子进行鉴别的。被探测到的粒子信号，送入电子 系统进行开门符合后，在计算机终端上进行数据分析。 半导体探测器的探测介质是半导体材料，其工作原理和气体电离室相似： 带电粒子进入结区，与半导体材料中的电子相互作用，损失能量，产生电子．空 穴对。 3、AMS的样品测量过程 为了更好地对AMS进行了解，卞面以“cl测量为例，对AMS的测量过程 进行介绍。 把待测核素的化合物AgCI样品压入靶锥中心的小孔中，靶锥安装在可转 动的靶盘上，一次可装入12个。Cs离子束通过靶锥侧面空间射出，经地电极 反射到靶锥中心，打在样品上产生负离子，正电位的吸极把负离子引出，经过 单透镜和900偏转磁铁进行质量选择，选择后的负离子主要包括“CI-、36S一、 ”O‘、35CuH一、送入预加速管道加速到约120KeV后注入加速器，(选择加速器 端压8．05Mev)，被剥离后产生多电荷态正离子，再经过电四极透镜选择出我 们需要的8+电荷态离子，被选定了电荷态的离子通过高能分析系统的再次选择 后，只剩下：‘6c18+和36S8十，经过漂移管道进入探测器。36Cl、36s的鉴别用的是 AE．E探测器，通过在电离室的AEI、AE2、AE3、ER和总能量ET的能谱上对 36CI设置门进行5重符合后在计算机终端上获取弘Cl的记数。 在整个测量过程中，粒子的鉴别和探测是很重要的一步。AMS测量中已掌 握了多种粒子鉴别技术。 一3一 ●广西大学碗士学位论文 第二章 AMS穗量中钓粒子鉴翱技术 第二章 AMS测量中的粒子鉴别技术 AMS测量中粒子鉴别方法，根据粒子的种类、能量和强度等性质的不同而 分为多种。一般常用的，用于鉴别同量异位素和同位素的方法主要有： (1)、AE．E探测望远镜方法。 (2)、布拉格曲线谱仪(Bragg Curve Spectrometry，简称BCS)方法。 (3)、充气磁谱仪(