衍射散射式颗粒粒度测量法的研究新进展.docVIP

光 学 技 术OPTICAL TECHNIQUE 光 学 技 术 OPTICAL TECHNIQUE 第 3 7 卷 第1 期 2 0 1 1 年 1 月 Vol． 37 No． 1 Jan． 2011 文章编号: 1002-1582( 2011) 01-0019-06 * 衍射散射式颗粒粒度测量法的研究新进展 杨依枫，杨晖，郑刚，蓝科 ( 上海理工大学 光电信息与计算机工程学院，上海 200093) 摘 要: 介绍了衍射散射式颗粒粒度测量法的基本光路结构和理论模型，讨论了决定其性能优劣的重要指标——— 测量下限，对影响测量下限向小粒径范围延伸的参数进行了分析。继而介绍了近年来国内外主要粒度仪品牌在光学结 构和散射理论模型方面所做的改进，阐述了它们的工作原理和性能特点。最后对衍射散射式颗粒粒度测量法的发展前 景做出了展望，从修正理论模型、改进反演算法、提高探测器性能、缩小测量系统体积等几个角度提出了改进的想法和实 例，并介绍了一种称为后向散射光谱傅里叶分析法的新方法，此方法有望大幅延伸测量下限。 关 键 词: 颗粒测量; 激光衍射; Mie 散射 中图分类号: TN247; TH741． 4 文献标识码: A Progress of particle size measurement by laser diffraction and