超声波UT检测资料.ppt

一次波检测时，如图4.13（a）所示，入射点到缺陷的声程为：xf=nτf 。缺陷在工件中的水平距离lf和深度df分别为： lf=xfsinβ =nτfsinβ df=xfcosβ=nτfcosβ 二次波检测时，如图4.13（b）所示，入射点到缺陷的声程仍为：xf=nτf 。缺陷在工件中的水平距离lf和深度df分别为： lf=xfsinβ =nτfsinβ df=2T-xfcosβ=2T-nτfcosβ 式中：T—工件厚度，mm； β—横波折射角。 缺陷反射声压的大小取决于：缺陷反射面大小；缺陷性质；缺陷取向。 2、深度定位法 按深度1：n调节横波扫描速度，缺陷波水平刻度值为τf。采用k值探头检测。 一次波检测时，缺陷在工件中的水平距离lf和深度df分别为： lf=Knτf df=nτf 二次波检测时，缺陷在工件中的水平距离lf和深度df分别为： lf=Knτf df=2T-nτf 当发现缺陷波后，应根据缺陷波的水平刻度与工件厚度关系来推测是几次波发现缺陷的，这一点很重要。 3、水平定位法 按水平距离1：n调节扫横波扫描速度，缺陷波水平刻度值为τf。采用k值探头检测。 一次波检测时，缺陷在工件中的水平距离lf和深度df分别为： lf=nτf df=lf/ K=nτf/ K 二次波检测时，缺陷在工件中的水平距离lf和深度df分别为： lf= nτf df=2T-lf/ K=2T-nτf/ K 当发现缺陷波后，应根据缺陷波的水平刻度与工件厚度与探头K值的乘积的关系来推测是几次波发现缺陷的。 一次波检测时： sinβ =L/S conβ =h/S tanβ =L/S 二次波检测时： 缺陷深度：h= 2T - 示波屏上显示的深度 β S L h 4.3.3横波探测圆柱面时缺陷定位 若沿轴向检测（对接环缝），缺陷定位与平面相同；若沿周向检测（对接纵缝），缺陷定位则与平面不同。 图4.14 外圆周向检测定位法 图4.15 内壁周向检测 （1）外圆周向检测：如图4.14所示，缺陷的位置由深度H和弧长L来确定。弧长总比水平距离l值大，但深度H却总比d值小，且差值随d值增加而增大。 （2）内壁周向检测：如图4.15所示，缺陷的位置由深度h和弧长l来确定。弧长总比水平距离l 值小，但深度h却总比d值大。 式中：R—外圆半径； r—内圆半径； K—探头K值。 （应用：筒体周向检测焊缝、管材检测、锻件检测等） 最大探测壁厚：当采用横波斜探头从外圆周向检测筒体工件且波束轴线与筒体内壁相切时，对应的厚度为最大探测壁厚Tm，工件壁厚超过Tm值时超声波束轴线将扫查不到内壁。不同k值探头最大检测壁厚Tm与工件外径D之比Tm/D为： 式中：Tm——可检测的最大壁厚，mm； D——工件外径，mm； K——探头的K值，K=tanβ。 当K值太小时，横波声压往复透射率低，容易漏检，当K=1.0时，可检测的最大壁厚与外径之比Tm/D=0.1465，内外半径之比r/R=0.7071。但由于随着r/R接近临界值，将会产生表面波，使声程偏差急剧增大，考虑到缺陷定位、定量的准确性，故一般把筒体可检测的内外半径范围定位r/R≥80%。斜探头的临界角应满足：sinβ≤r/ R 例：用K1.5横波斜探头外圆周向检测φ1080mm×85mm容器纵缝。仪器按深度1:2调节扫描速度，检测中在水平刻度40处出现一缺陷波，试确定此缺陷的位置。 解：已知：d=2×40=80mm，K=1.5 l=Kd=1.5×80=120mm，R=1080/2=540mm H=R - {（Kd）2+（R-d）2} 1/2 =540 - {（1.5×80）2+（540-80 ）2} 1/2 =64.6mm L= Rпarctan{Kd /（R-d)}/180 = 540×3.14 arctan{1.5×80 /（540-80)}/180 = 137.7mm 答：该缺陷至外圆的距离H=64.6mm，对应的外圆弧长L= 137.7mm。 （3）最大探测壁厚：如图6-29所示，当采用横波斜探头从外圆周向检测筒体工件且波束轴线与筒体内壁相切时，对应的厚度为最大探测壁厚Tm，工件壁厚超过Tm值时超声波束轴线将扫查不到内壁。不同k值探头最大检测壁厚Tm与工件外径D之比Tm/D为： 式中：Tm——可检测的最大壁厚，mm； D——工件外径，mm； K——探头的K值，K=tanβ。 当K值太小时，横波声压往复透射率低，容易漏检，当K=1.0时，可检测的最大壁厚与外径之比Tm/D=0.1465，内外半径之比r/R=0.7071。但由于随着r/R接近临界值，将会产生表