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TS16949五大工具教材;五大工具; 五大工具的使用先后顺序： 通常是APQP，FMEA，CP，MSA，SPC，PPAP（注意顾客的PPAP要求可能对各个方面都有规定，所以在每个工具的应用时必须考虑顾客的要求）。 五大工具的学习顺序： 通常是SPC，MSA，CP，FMEA，PPAP，APQP（方便理解和掌握）。;FMEA与SPC的关系： 当所分析的特性为特殊特性时，FMEA中的现行控制措施（预防措施）中可能使用SPC。 MSA与SPC的关系： 用于进行SPC分析的特性，需要对其测量系统进行分析。 APQP与SPC的关系： 过程设计和开发阶段，需要确定测量??统分析计划及初始过程能力研究计划。 产品和过程确认阶段，需要进行测量系统分析及初始过程能力研究。 反馈、评定和纠正措施阶段，需要对制造过程进行持续改进。 CP与SPC的关系： 如果特殊特性使用SPC管制时，控制计划中的控制方法需要体现选择的方法。 PPAP与SPC的关系： SPC是PPAP中的一部分，顾客通常要求提交统计过程研究的结果。;控制图的实施步骤;步骤1：建立环境。;步骤3：选择控制图;步骤4：抽取样本;步骤7：过程是否正常判定;常见直方图类型解读;常见直方图类型解读—续;直方图与公差限比较;判异准则及可能的异常原因;判异准则及可能的异常原因—续;判异准则及可能的异常原因—续;判异准则及可能的异常原因—续;判稳准则;过程能力分析结果;T/2;过程能力指数;有反馈的过程控制系统模型;步骤9：对策的提出/执行和验证;7.6.1 测量系统分析 为分析各种测量和试验设备系统得出的结果中呈现的变差，应进行统计研究。此要求应适 用于控制计划中提及的测量系统。所用的分析方法及接受准则应符合顾客关于测量系统分 析的参考手册的要求。如果得到顾客的批准，也可使用其他分析方法和接受准则。 测量系统分析与控制计划及APQP的关系 控制计划中“评价及测量技术”栏目中所体现的测量和试验系统都必须进行测量系统分析。 APQP的小组准备工作中，项目进度策划应考虑所需的测量系统分析，过程设计和开发阶段（ 第三阶段）应确定测量系统分析计划，产品和过程确认（第四阶段）应按计划进行所需的 测量系统分析。 测量系统分析与PPAP的关系 PPAP要求对新的或改进后的量具、测量、试验系统进行分析。保存并在客户要求时提交。 测量系统分析与SPC的关系 进行SPC研究的测量系统应在进行SPC研究前进行测量系统分析，且结果须符合接受准则。 测量系统分析与FMEA的关系 FMEA中未体现对测量系统分析的要求。;计量型;测量误差主要来源于重复性和再现性； 偏倚和线性由测量系统的系统误差构成；精确度由随机误差构成；重复性由测量系统内部变差构成；再现性由系统之间（条件）变差构成； 计量型测量系统通常要求对重复性和再现性进行分析，内部或外部校验分析其偏倚、线性，量具各种量程都使用得到（如用于实验室） ，则先分析线性再偏倚，量具只有个别量程使用到则仅分析其偏倚，量具非完全自动的，需分析其重复性和再现性。量具完全自动的，不需分析其再现性，但是需再分析其稳定性。;测量系统分析方法： 计量型测量系统（测量结果连续） 原则上需要进行五性分析，即重复性、再现性、偏倚、线性和稳定性。 测量误差主要来源于重复性和再现性。 客户认可情况下，后三性可以采用外校替代。 如测量系统不因人员产生变差（如电子称），则再现性可以忽略（即进行分析时只选择一个评价人）。 重复性和再现性评价准则（均值图有一半或一半以上的点在控制限外，极差图不能有点在控制限外，ndc ≥5）及如下： %GRR＜10%，测量系统可以接受。 10%≤%GRR ＜30%，视测量特性的重要性，测量设备的成本、维修成本，测量系统可能是可以接受的。 %GRR≥30%，测量系统不能接受，必须改进。 ;测量系统分析方法： 计数型测量系统（测量结果离散） 具有计数型+更高一级的计量型测量系统可采用信号探测法。 重复性和再现性评价准则如下 %GRR＜10%，测量系统可以接受。 10%≤%GRR ＜30%，通常是可以接受的。 %GRR≥30%，测量系统不能接受，必须改进。 只有计数型的测量系统可采用假设试验分析法 Kappa ≥ 0.75，一致性良好。;GRR分析主要注意事项： 测量人员：必须熟悉测量仪器的使用 取样应具有代表性 所取样品应该尽量覆盖整个过程变差（样品不可以在生产过程中连续取样，可以按规定的时间间隔及人、机、料、法、环变化时取样，最好事先选取，如尺寸规格为10.0±0.05，实际过程变差10.0±0.04，取样时尽量覆盖9.96-10.04）。 测量的要求：盲测 评价人不知自已测量的样品的编号，但记录的人员必须知道，且每个评价人间不知道其他评价人