第四章偏光显微镜下的晶体光学性质.pptVIP

第*页 干涉图锐角区为一级灰白，用石膏板补色器 干涉图锐角区有干涉色带，用云母板补色器 若干涉色带过多过密，加入石英楔，干涉色升高为色圈内移，降低为色圈外移。 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 补色器的选用 首 页 2．垂直一个光轴的切面的干涉图 相当于垂直Bxa干涉图的一半，光轴出露点位于视域中心 光轴与上下偏光之一平行时，出现一条黑臂及干涉色 转物台，黑臂弯曲。45°位，黑臂曲率最大点为光轴出露点，位于视域中心，凸向Bxa，再转45°，变为一竖向  成因与垂直Bxa干涉图相同 光性正负的测定测光性时，将物台转45度，黑臂凸向Bxa，根据切面测定方法测之。 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 第*页 首 页 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 在光轴面方向与上、下偏光方向成45°时，黑带的弯曲程度与光轴角大小成反比。光轴角越大，黑带越直 2V＝0°时，黑带成直角； 2V＝90°时，黑带成一直带 利用垂直光轴的干涉图估计光轴角的大小 2V介于0°～90°之间，黑带弯曲度介于90°到直带 对2V粗略估计，此法简便，但不很精确 假定折射率平均为1.60 第*页 首 页 首 页 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 利用垂直光轴的干涉图估计光轴角的近似值 显微镜下测的光轴角，称为视光轴角，往往比2V大，符号2E 求得2E后可算出2V值。根据折射定律可得到以下的关系： 光