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单模光纤中弯曲损耗的测试与分析-光子学报.pdf

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32 4 Vol. 32 No. 4 2003 4 ACTA PHOTONICA SINICA April 2003 游善红 郝素君 殷宗敏 李新碗 ( , 200030) 对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径( 1 8 mm) 和波 ( 1530 1565 nm) 变化的实验进行 了测试, 结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波 呈现振荡. 理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在 包层以及涂覆层中传播的Whispering-gallery 模式之间的耦合, 引起了弯曲损耗的振荡, 理论分析 结果和实验结果基本一致. 单模光纤; 弯曲损耗; 耦合; 振荡; 弯曲半径; 波 TN252 A n , n n . 0 1 2 3 , a , b. (X , Y) , , Y= 0 , R . . , , , : , [ 1] . , , 图1 单模光纤横截面结构 [ 2] Fig. 1 Typical geometry of a bend fiber . , [ 9] (X , Y) , . , , [3,4] . , Y 2 2 2 2 2 d ( x , )/ dx + [ k n ( 1+ 2x / R ) - - , q q 0 2 [5 11] ] ( x , ) = 0 ( 1) q , ( x, ) ( x , y ) q q q [8] Y , nq q , . k = 2/ ,

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