围产期窒息婴儿的颅脑课件.pptVIP

围产期窒息婴儿的颅脑 概　　述 目前围产期窒息在新生儿发病率、死 亡率中仍占很大比重，是新生儿死亡和以 后神经系统发育障碍的主要原因。CT用于 新生儿颅内出血和缺氧缺血性脑病的诊断 在多数国家已做为一种常规检查开展，填 补了新生儿窒息后在存活期间诊断不明的 空白。 正常新生儿脑CT特征 有别于成人。随孕周的增加，新生儿的 脑CT表现有着发育阶段性的变化。 Picard等的研究曾得了如下结论： 　颅骨：未完全骨化，密度低，可不对称。 　脑膜：仅见到部分大脑镰。 　 脑室系统：显示相对不良，与脑室腔的 绝对容积小及脑室腔与附近脑结构的密度 正常新生儿脑CT特征 相似不易分辨有关（层厚、机器等）。 　蛛网膜下腔：早产儿腔隙较大，显示好。 　脑实质：孕28w，整个大脑皮层呈低密 度，中央脑室周围、胚胎生发层组织密度 相对高。孕34w时基本同28w，但胚胎生发 层组织消失。孕39w时，除额叶密度仍相 对低外，余接近成人。 围产期窒息婴儿的颅脑CT诊断 目前已知围产期窒息对中枢神经系统主要造成二种类型的损伤： 一种是新生儿颅内出血（?intracranial hemorrhage of the newborn） 一种是新生儿缺氧缺血脑病（neonatal hypoxic/ischemic encephalopathy HIE或Hypoxic/iscbemic damage—HID） (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病 　　是由于新生儿窒息，引起脑血供和气体交换障碍所致的一种全脑性损伤。 临床与病理：主要表现为脑水肿，脑缺血可同时合并脑出血，晚期主要为脑软化、脑萎缩。临床常见表现为皮肤粘膜青紫或苍白，呼吸异常，反射减弱或消失，痉挛性双侧瘫等。 (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病  　　CT表现:可准确反映HIE的病理变化。 　　1 脑水肿 表现为两侧大脑半球片状或广泛性密度 减低，灰、白质分界模糊或消失。脑干、小 脑受累较轻，而呈相对高密度。 (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病 　　2 脑缺血 在早产儿如足月新生儿分布有所区别。 早产儿则多由于脑室周围血管梗塞，引 起脑白质的缺血、软化、坏死，最后形成囊 变。 早产儿缺血常见于侧脑室周围白质区; 呈斑片状低密度灶，可多发，两侧可不对称， 尾状核等深部核团常受累； (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病 足月儿常引起脑水肿的变化或伴皮层 梗塞，常见于皮质和皮质下区。有些病例 短期内可见钙斑（缺血软化区内）。 　 3 脑软化＼脑萎缩 表现为受累区域低密度灶，局部脑沟增 宽，相对应处侧脑室扩大且轮廓不整等脑 萎缩改变。 (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病 分级： 　 Ⅰ级：脑室周围额、顶、枕部散在低密度区。 　 Ⅱ级：延及基底神经节和胼胝体周围的白质。 　 Ⅲ级：广泛分布于脑实质内。 　 Ⅳ级：引起脑室缩小或消失。 (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病 对低密度区的评价大致有三： Ａ 早产儿的脑室周围额部或额枕部呈低密度区或足月儿的额部呈低密度区均为正常表现。—反映了新生儿的一个发育过程。 原因如下：a.未成熟脑的含水量高； 　　　 b.髓质化尚不完整； 　　　 c.缺乏髓鞘形成。 　 (一 ) 新生儿缺氧缺血性脑病 　　随孕期增加，低密度灶渐少，在48w （生后2月）额部低密度区消失。 　　Ｂ 足月儿在脑室周围呈弥漫性低密度区为一病理现象。 　Ｃ 早产儿出生后，当实际胎龄达40w时，脑室周围仍呈弥漫性低密度区，亦属一种病理改变。 （二） 新生儿颅内出血 　主要由缺氧或产伤引起，少数为出血性 疾病或颅内先天性血管畸形所致。是新生儿 早期重要死因之一。 　 机理： 　 缺氧→脑组织充血、水肿，脑血管壁透性增高→点状出血。同时缺氧→肝合成凝血因子发生障碍→加重出血. （二） 新生儿颅内出血 产伤→可造成硬膜窦撕裂或皮质桥静 脉、脑内的静脉以及脉络膜丛静脉裂．以 硬膜下出血最常见，其次为SAH，也可发 生脑实质、脑室内和硬膜外出血。 出血后，大分子Hb聚集（RBC压积↑），对X线吸收↑→CT上出血为高密度.。 室管膜下出血 据解剖部位分为五种: （1） SHE（Subependamal hemorrhage,室管膜下出血） 来源于胚胎生发层组织的出血，极少来源于脉络丛。 胚胎生发层组织（Germinal matrix）位于整个脑室系统和脊髓中央管的室管 室管膜