原子力显微镜对纳米颗粒的表征.pptxVIP

Characterization of nanoparticles using Atomic Force Microscopy ; Abstract.;1.Introduction 2.Preparation and Experimental set-up 3.Results and Discussion. 4.Conclusion;Introduction;2.Preparation and Experimental set-up; ;; ; ; ; ; ; 与化学处理的Si相比（图4（b）），清洁Si表面上的TiO 2纳米颗粒 的密度（图4（a））非常高。原因在Si表面上的化学处理增加了表面的 疏水性，从而降低了纳米颗粒的粘附。尽管在溶液中具有相同的浓度， 图（a）显示707个颗粒，图（b）仅显示11个颗粒。可以看出，化学处 理（硅烷化）增加了Si衬底的疏水性。当纳米颗粒的水性悬浮液沉积在 该基底上时，表面排斥悬浮液，因此纳米颗粒不粘附于表面。这就是为 什么在化学处理的Si衬底上TiO 2纳米颗粒的密度降低的原因。; 1 底物的性质起着非常重要的作用;它影响纳米颗粒的数量和沉积在其表面上的颗粒的分布。可以看出，当沉积在云母上时，ZrO2纳米颗粒似乎 形成团聚体，而在Si基底上，它们看起来分布良好。这可能是由于云母的 亲水性质。 2 还可以看出，Si的化学处理（硅烷化）增加了其表面的疏水性。当纳米颗粒的水性悬浮液沉积在该基底上时，表面排斥悬浮液，因此纳米颗粒不粘附于表面。这就是为什么在化学处理的Si衬底上的TiO2纳米颗粒与干净的Si相比具有降低的密度的原因。看来，纳米颗粒对基底的粘附性随着表面的疏水性的增加而降低，反之亦然。 3 纳米颗粒表面的性质也影响基底上的分布。 TiO 2和ZrO2纳米颗粒具 有防止它们形成附聚物的化学处理的表面。而Al 2 O3纳米颗粒是裸露的， 因此具有彼此比基底更好地粘附并且倾向于凝结的倾向。;一句话总结:用AFM观察通过使用不同种类的基底研究纳米 颗粒的行为和通过使用化学改性的方法改变基底的性质研 究其行为。文中通过TiO 2，ZrO 2和Al 2 O 3纳米颗粒以不 同的浓度施加在不同种类的基底上，并通过AFM在动态模 式下成像。 发现所得图像受所用基底的种类，纳米颗粒表 面的性质以及纳米颗粒悬浮液的稀释的影响。;