《现代计算机控制基础》考试必备.docx

武汉科技大学 A3-4 已知平面上封闭曲线如题图A3-4所示（①→②→③→④→⑤→①），试画出映射至z 平面的封闭曲线。 题图A3-4 习题A3-4图 解：如题图A3-4-1所示。图形对横轴是对称的。 题图A3-4-1 习题A3-4图解答 A3-6 已知系统的结构图如题图A3-6所示，其中，输入，试用稳态误差系数法求稳态误差，并分析误差系数与的关系。 题图A3-6 解： 可见加入该信号，稳态误差为1，且与采样周期无关。 1、 采样周期过大、过小分别有什么不利影响？ 采样周期过大：信号的保真性下降，系统稳定性会变糟，快速性也自然会变坏。 采样周期过小：调节过程非线性加大。 1、 画出典型计算机控制系统的基本框图。答：典型计算机控制系统的基本框图如下： 2、 根据采样过程的特点，可以将采样分为哪几种类型？ 答：根据采样过程的特点，可以将采样分为以下几种类型。 (1) 周期采样 指相邻两次采样的时间间隔相等，也称为普通采样。 (2) 同步采样 如果一个系统中有多个采样开关，它们的采样周期相同且同时进行采样，则称为同步采样。 (3) 非同步采样 如果一个系统中有多个采样开关，它们的采样周期相同但不同时开闭，则称为非同步采样。 (4) 多速采样 如果一个系统中有多个采样开关，每个采样开关都是周期采样的，但它们的采样周期不相同，则称多速采样。 (5) 随机采样 若相邻两次采样的时间