第八章 密度测井.pptVIP

图8－11 视石灰岩密度孔隙度与地层岩性的关系（水层） 1）、确定地层孔隙度 在已知地层岩性及孔隙流体性质的条件下，应用下式即可确定地层孔隙度： 3、地层密度测井资料的应用 纯地层 (8-18) 泥质地层 (8-19) 2）、密度曲线与中子测井曲线重叠识别气层。 气层：密度视石灰岩孔隙度大，密度低，中子孔隙度低。 注：声波时差确定的孔隙度是地层原生孔隙度； 密度确定的孔隙度是地层总孔隙度（原生孔隙度＋次生孔隙度）． 3）、密度-中子测井交会图确定地层岩性及孔隙度。 第三节 岩性密度测井 岩性密度测井利用伽马射线与地层的光电效应及康普顿效应，测定地层密度、孔隙度及岩性。 一、岩性密度测井的基本原理 1、井下仪 岩性密度测井采用的井下仪与密度测井的相似。测井时，井下仪的滑板被推到井壁上，滑板上装有铯伽马源和长、短源距的伽马光子探测器。 铯伽马源产生的伽马射线的能量为0.661MeV，这种能量的伽马光子通过地层时，其高能段的伽马射线，只受康普顿效应的影响，探测到的伽马光子数与地层密度有关。 在低能谱段，伽马射线主要受光电效应的影响。低能段的伽马光子计数率与高能段的伽马光子计数率的比与地层的光电吸收截面指数Pe有线性关系，如图8-12所示。 2、测量原理 由此通过对测量长源距探测器开设高能段窗口、低能窗口，分别测量高能段及低能段伽马光子计数率。短源距探测器只设高能窗。 由长、短源距探测器记录的高能段的伽马光子计数率确定地层密度。由长源距探测器记录的低能伽马光子计数率确定地层光电吸收截面指数和体积光电吸收截面U。 岩性密度测井的输出为：地层密度、地层密度的泥饼校正值、光电吸收截面指数Pe和地层体积光电吸收截面U。如图8-13所示。 二、岩性密度测井资料的应用 1、确定岩性 地层的光电吸收截面指数Pe和体积光电吸收截面U都可以用来识别岩性。 (8-20) (8-21) 一般流体的体积光电吸收截面远远低于矿物的体积光电吸收截面，所以，可以利用（8－21）计算矿物的体积光电吸收截面。 另外，还可以应用Pe和孔隙度确定单矿物岩石的岩性。如图8-10所示。 图版的使用方法： 1）、有孔隙度确定一点a; 2）、过a点做水平线与有Pe值所画的垂线相交一点b； 3）、根据b点所在区域，确定单矿物岩石的岩性。 2、计算储层的泥质含量 泥质含量可有下式计算： 3、识别重矿物 一些重矿物的Pe值比较大，如重晶石（Pe=266.8），锆石（Pe=69.1），当地层含有这些重矿物时，地层的Pe显著增大，据此可识别重矿物。 (8-22) 小结 一、地层密度为单位体积地层的质量。与地层岩性、 孔隙度、孔隙流体性质有关。 二、密度测井的输出为地层的视石灰岩孔隙度、地层密度及密度的校正值。 三、岩性密度测井的输出为地层密度、密度的校正值、地层的光电吸收截面指数Pe和体积光电吸收截面U。 四、地层的视石灰岩孔隙度与岩性、孔隙度及孔隙流体性质有关。 五、应用密度测井资料可以解决以下问题： 1、确定地层岩性； 2、确定地层孔隙度； 3、识别气层； 4、识别地层中的重矿物； 5、计算地层的泥质含量。 思考题 1、讨论泥饼厚度及密度对密度测量值的影响。 2、讨论地层密度与孔隙度及孔隙流体密度的关系。 3、讨论视石灰岩密度孔隙度与地层岩性、孔隙度及孔隙流体的关系。 4、已知完全含水纯砂岩地层，其视石灰岩密度孔隙度为0.28，求地层孔隙度。 6、灰岩地层，声波时差60微秒/英尺，地层密度2.5克/立方厘米。求地层孔隙度及次生孔隙度。（骨架声波时差48微秒/英尺，流体时差189微秒/英尺。骨架密度2.71g/cm3，流体密度1.0g/cm3。 5、已知含气砂岩地层的孔隙度为0.23，求地层密度及视石灰岩孔隙度。（天然气的密度分别为0.05g/cm3、0.15g/cm3） 气层、水淹层、干层测井曲线特征 油层、干层测井曲线特征 KYY井气层三孔隙度曲线特征 KY井气层三孔隙度曲线特征 KX井气层三孔隙度、电阻率曲线特征 气层、水淹层、干层测井曲线特征 DD井气层三孔隙度、电阻率曲线特征 气层 XQ井气层三孔隙度曲线、时差比（比值减小）曲线特征 低电阻率疑难气层 特征明显的气层 气层－偶极横波处理成果图 气层特点： 泊松比低； 压缩系数大。 XZ井气层三孔隙度曲线、时差比（比值减小）曲线特征 水层 气层 3700测井系列气层特征图 声波时差-中子伽马 中子-密度 4301－4307m试油 1.2×104 m3 /d, 第八章 密度测井和岩性密度测井 密度测井、岩性密度测井的地质基础 密度测井 岩性密度测井 内容小结 思考题