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- 约 35页
- 2019-09-23 发布于湖北
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* 第六章 固体材料的测试与分析 参考书: 《材料物理现代研究方法》马如璋 徐祖雄, 1997年8月第1版,冶金工业出版社 对于材料物理来说,除了材料制备方法以外,最广泛使用的表征材料特征的方法有: 衍射方法: 中子衍射、X射线衍射、电子衍射、穆斯堡尔谱、γ射线衍射等… 显微方法: 光学显微镜、电子显微镜、扫描遂道显微镜、场离子显微镜、原子力显微镜等… 表征材料的方法 考虑所需的信息:整体统计性的还是局域性的?是宏观尺度的、纳米尺度的还是原子尺度的?是单项的还是综合的? 考虑采用什么方法才能得到自己需要的参数 优先考虑本实验室现有的测量手段 考虑实验费用 考虑是否能用别的测量手段替代 如何选择测量手段 某些常用的测量方法 扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 工作原理:利用一个来自同步辐射源的可调单色X射线辐照样品。当X射线的能量从稍低于样品中选定元素原子内壳层电子结合能(例如K或L电子)到远高于此能量扫描时,会发生X射线吸收,并可观察到一个极陡的吸收边。当入射X射线的能量大于结合能时,可以观察到一系列吸收振荡。 用处:能够反映X射线吸收原子0.5nm附近的原子结构分布情况。 EXAFS的频率与吸收原子和其近邻原子间距有关,而EXAFS的强度则与近邻原子的种类、数量和有序度有关。 表面扩展X射线吸收超精细结构和近边X射线吸收超精细结
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