第三章x射线衍射分析.ppt

第三章 x射线衍射分析 X射线的波粒二相性 X射线波长的度量单位常用埃（?）或晶体学单（kX）表示；通用的国际计量单位中用纳米（nm）表示，它们之间的换算关系为： 1nm=10 ? = 10 -9m 1kX=1.0020772±0.000053 ? (1973年值)。 一、X射线的产生与X射线谱 产生条件 1.产生自由电子； 2.使电子作定向的高速运动; 3.在其运动的路径上设置一个障碍物使电子突然减 速或停止。 特殊构造的X射线管； (1)细聚焦X射线管； 在X射线管阴阳极之间，添加一套静电透镜或电磁透镜，使阴极发射的电子束聚焦在阳极上，焦斑只有几个微米到几十微米。虽然电子束流减小，但因焦斑小，单位焦斑面积发射的X射线强度增加。这种X射线管，除了可以缩短拍摄照片得到极细的X射线束，有利于提高结构分析的精度。 (2)旋转阳极X射线管 采用适当的方法使阳极高速旋转，这样，可使靶面受电子轰击的部位——焦斑随进改变，有利于散热，可以提高X射线管的额定功率几倍到几十倍。 市场上供应的种类 (1)密封式灯丝X射线管； 最常使用的X射线管，它的靶和灯丝密封在高真空的壳体内。壳体上有对X射线“透明”的X射线出射“窗孔”。靶和灯丝不能更换，如果需要使用另一种靶，就需要换用另一只相应靶材的管子。这种管子使用方便，但若灯丝烧断后它的寿命也就完全终结了。密封式X射线管的寿命一般为1000—2000小时，它的报废往往并不是与因灯丝损坏，而是由于靶面被熔毁或因受到钨蒸气及管内受热部分金属的污染，致使发射的X射线谱线“不纯”而被废用。 市场上供应的种类 (2)可拆式灯丝X射线管 这种X射线管在动真空下工作，配有真空系统，使用时需抽真空使管内真空度达到10－5毫帕或更佳的真空度。不同元素的靶可以随时更换，灯丝损坏后也可以更换，这种管的寿命可以说是无限的。 2．连续X射线谱 3．特征X射线谱 3．特征X射线谱 特征X射线的产生机理 特征X射线的产生机理 以K层产生空位为例 由能级可知Kβ辐射的光子能量大于Kα的能量，但K层与L层为相邻能级，故L层电子填充几率大，所以Kα的强度约为Kβ的5倍。 产生K系激发要阴极电子的能量eVk至少等于击出一个K层电子所作的功Wk。阴极电子的能量必须满足eV≥WK＝hυK，才能产生K激发。其临界值为eVK＝WK ，VK称之临界激发电压。 特征X射线波长与靶材料原子序数有关 莫塞莱定律 标识X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构，是物质的固有特性。 莫塞莱定律：标识X射线谱的波长λ与原子序数Z关系为： C为常数，Z为原子序数，σ为K壳层的屏蔽系数 R=1.0961×107/m,里德伯常数 标识X射线的强度特征 K系标识X射线的强度与管电压、管电流的关系为： 当I标/I连最大，工作电压为K系激发电压的3~5倍时，连续谱造成的衍射背影最小。 二、X射线与物质的相互作用 X射线与物质相互作用的总结 吸收限的应用 吸收限主要是由光电效应引起的：当X射线的波长等于或小于?k时,光子的能量E可以击出一个K层电子，这时X射线被吸收，激发光电效应。使μm突变性增大。 吸收限与原子能级的精细结构对应。如L系有三个副层，有三个吸收限。 (1)它的吸收限位于辐射源的Kα和Kβ之间，且尽量 靠近Kα。强 烈吸收Kβ，Kα吸收很小； (2)滤波片的厚度以将Kα强度降低一半最佳。 Z靶40时 Z滤片=Z靶-1； Z靶40时 Z滤片=Z靶-2； 常用滤波片 原则：阳极靶Kα波长稍大于试样的K吸收限。 既避免了荧光X射线的产生，也使试样对X射线的吸收最小。 Z靶≤Z试样+1。 如研究纯铁，选择钴或铁靶，而不能用镍或铜靶。 若试样含有多种元素，以其主要组元中原子序数最小的元素 选择阳极靶。 X射线的探测 荧光屏法；荧光板是将ZnS、CdS等荧光材料涂布在纸板上制成，常用来确认光源产生的原射线束的存在。 照相法； X射线与可见光一样，能够使感光乳剂感光。当感光乳剂受到X射线照射后，AgBr颗粒离解形成显影核，经过显影而游离出来的单质银微粒使感光处变黑。是最早使用的检测并记录X射线的方法，直到现在仍是一种常用的基本方法。 辐射探测器法；X射线光子对气体和某些固态物质的电离作用可以用来检查X射线的存在与否和测量它和强度。按照这种原理制成的探测X射线的仪器电离室和各种计数器。 X射线的安全防护 X射线设备的操作人员可能遭受电震和辐射损伤两种危险。 电震的危险在高压仪器的周围是经常地存在的，X射线的