第六章-纳米材料的表征教学文稿.pptVIP

第六章 纳米材料的表征;6.1 粒度表征;样品制备：将微粒制成的分散液滴在带有碳膜的电镜用铜网上，待分散液体介质（如无水乙醇）挥发后，放入电镜样品台进行观测。;间接法;三大规律： 1）散射光强度与入射光波长的4次方成反比，即波长越短的光越易被散射。 2）散射光强度与粒子体积的平方（粒子直径的6次方）成正比，即粒子尺寸越小，散射光越弱 3）散射光在各个方向的强度是不同的。;激光静态光散射法结构图;0.04-2000um;动态光散射法;;数学表达式为：;激光动态光散射法结构图;;激光粒度分析法的特点：速度快，准确，统计性强 当量体积径 问题：试样需高度分散;美国布鲁克海文仪器公司ZetaPALS纳米粒度及Zeta电位分析仪;超声波粒度分析（最新出现的粒度分析方法） 原理;0.01-1000微米;X射线衍射线线宽法（晶粒度大小的确定）;Fig. 3.2 XRD patterns of the powders produced by YNA method.;实验表明，当晶粒度小于等于50nm时，测量值与实际值相近，反之，测量值往往小于实际值。在用谢乐公式进行晶粒度计算时，应选取多条低角度X射线衍射线（2??50?）进行计算，然后求其平均值。这是因为高角度X射线衍射线的K?1 与K?2双线分裂开，会影响测量线宽化值。;德国布鲁克公司D8型 X射线衍射仪 ;6.2 比表面积法;Vm为单分子层饱和吸附量，N为阿佛伽德罗常数，?为吸附气体分子的横截面积，Mv为气体的摩尔体积，W为样品质量;以 对 作图，应得一直线，直线的斜率S 为 ，截距I为 ，解此二式得;0.01-2000m2/g;6.3 形貌与结构表征;扫描隧道显微镜（Scanning Tunnel Microscope, STM）;;STM与TEM、SEM的各项性能指标比较;;原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM） 不仅可直接获得绝缘体材料表面的原子级分辨率图象，还可测量、分析样品表面纳米级力学性质，如表面原子力，表面弹性、塑性、硬度、黏着力等，也可用于操纵分子、原子，进行纳米尺度的结构加工和超高密度信息存储。 原理：一个对力非常敏感的微悬臂，其尖端有一个微小的探针，当探针轻微地接触样品表面时，由于探针尖端的原子与样品表面的原子之间产生极其微弱的相互作用力而使微悬臂弯曲。将微悬臂弯曲的形变信号转换成光电信号并进行放大，就可以得到原子之间力的微弱变化的信号。 AFM非常适合纳米粒子形貌及其表面观测，TEM只能在横向尺度上测量纳米粒子，而对纵深方向上尺寸的检测无能为力，AFM在三维方向上均可对纳米粒子进行观测，横向分辨率0.1nm，纵向分辨率0.01nm;AFM原理示意图;AFM的样品制备：纳米粉体应尽量以单层或亚单层形式分散并固定在基片上，为此应选择合适的溶剂和分散剂将粉体材料制成稀的溶胶，必要时采用超声分散以减少纳米粒子的聚集，以便均匀分散在基片上，根据纳米粒子的亲疏水性、表面化学特性等，选择合适的基片，样品尽量牢固地固定在基片上，必要时可以采用化学键合、化学特定吸附或静电相互作用等方法。;;6.4 物相及其变化的表征;Fig. 2.3. XRD patterns of the powders produced by YSA method.;电子衍射法（Electron Diffraction, ED）;单晶c-ZrO2;;热重－差热分析(Thermogravimetry-Differential Thermal Analysis, ＴＧ－DTA) DTA是通过测定材料在加热过程中产生的热效应（吸热或放热）分析材料的物相变化过程，对于加热过程中物质的失水、分解、相变、氧化、还原、升华、熔融、晶格破坏及重建等物理-化学现象能精确地测定和记录。 如果被测物质在加热过程中有结晶水排出、分解或晶格结构破坏时，则吸收热量；当被测物质加热过程中有氧化、放热相转变，或发生放热反应形成新物质时，则放出热量。 含水化合物：失水均表现为吸热，吸附水失去的温度大约为110?C，结晶水在300 ?C放出，结构水的脱除温度更高； 高温下有气体放出的物质。碳酸盐、硫酸盐及硝酸盐等在加热过程中，由于CO2、SO2、NO2等气体的放出，而吸热； 材料中含有变价元素：变价元素在高温发生氧化，由低价变高价而放出热量； 非晶态物质的重结晶（晶格重建）：表现为放热； 晶型转变（晶格破坏并重建）：吸热或放热；; ;DTA曲线在143℃和226℃分别有一尖锐的吸热峰，TG曲线有显著的失重，前者为前驱体脱去吸附水和结晶水，后者为碱式碳酸盐分解成氧化物，CO2、NH3和结构水挥发所致。在250℃～600