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光学测量的基本知识 一?典型的光学测试装置光具座 一?典型的光学测试装置 光具座 光具座的类型一般以其上的平行光管EFL的长短来区分，例如: GXY—08A 型之 EFL=1200mm? 我们的光具座:MSFC—IV型有3个准直镜头， EFLl=550mm,F/NO=10 EFL2=200?61 mm,F/NO=4 EFL3=51.84mm,F/NO=4 其组成如下：1 ?平行光管?2?透镜夹持器.3.V型座?4测量显微镜. 5?导轨底座?6?光源.7.光源变压器?8?光源调压器. 9 ?附件. 1.平行光管 又称准直仪，它的作用是提供无限远的目标或给出平行光?其组成如下: 1 n — 7 1 / — 分划板物镜 EFL=550mm 分划板 分划板的形式有多种，例如(1)十字或十字刻度分划板,(2)分辨率板,(3)星点板, (4)玻罗板(PORRO). 2.透镜夹持器 用来夹持被测镜片或镜头，並保持光轴的一致性. 3. V型座 用来放置EFL=200.61mm和EFL=51.84mm准直物镜，並保持光轴 一致性. 4.测量显微镜 是一个带有目镜测微器的显微镜.用来进行各种测量.目镜测微器有 多种?最常用的是螺杆目镜测微器，其螺距为0.02mm,则每格值为 0.002mm. 5?导轨底座 导轨很精密，用它把1 ?平行光管?2?透镜夹持器.3.V型座.4测量显微镜等 联在一起,称为光具座. 6.附件:各种倍数和不同数值孔径的显微镜物镜,各种分划板. 光具座主要测量(1)正，负透镜和照相物镜，望远物镜的焦距(EFL). 正，负透镜和照相物镜，望远物镜的截距(BFL) 检测照相物镜，望远物镜的分辨率. 检测照相物镜，望远物镜的星点. 照相物镜，望远物镜的F/NO. 加上其它光学器件和机械装置,可以组成多种 光学测量装置. 序号 分划板 1 玻罗板(暗刻线亮背景)10,4,2mm 2 分辨率板a2 3 分辨率板Aj 4 分辨率板Z 5 星孔板d=6um 6 星孔板d=15um 7 星孔板d-30um 8 星孔板d=50um 9 玻罗板(壳刻线暗背景)10,4,2nun 10 亮背景全口径十字线分划板 一?焦距(EFL)的测量 光学系统和透镜的重要参数…焦距(EFL),迄今已有多种行之有效的测量方 法. 1 ?放大率法?2?自准直法?3?附加透镜法?4?精密测角法.5.附加接筒法. 6?固定共範距离法.7.附加已知焦距透镜法?反转法?9?光栅法. 10 ?激光散斑法?11 ?莫尔条纹同向法. 放大率法测量原理 是目前最常用的方法，主要用于测量望远物镜，照相物镜，目镜的焦 距(EFL)和后截距(BFL).也可以用于生产中检验正,负透镜的焦距(EFL) 和后截距(BFL). 被测透镜或物镜位于平行光管前，平行光管物镜焦面上分划板的 一对刻线就成像在被测物镜的焦面上?这对刻线的间距y和它的像的间 距y1与平行光管物镜焦距仏和被测物镜的焦距f1有如下关系： yVy = f1 /f1 c 或 f1 = f1 c (y1 /y) 必须指出，由于负透镜成虚像，用测量显微镜观测这个像时，显 微镜的工作距离必须大于负透镜的焦距. 一种简易测量焦距的方法 在没有光具座的情况下，可用下面简易方法，但精度差. 方法：用两次测量不同物距上被测物镜的横向放大率求焦距. 根据高斯公式： F*=pX=-X*/p 可得 F*=E/y2-Yi 丫1=1仙=丫1/丫1 ,血=1/卩 2=Y2/Y2* A?这种方法存在理论误差，必须要加以修正.修正系数为N1+(H/F*)1所 以： F*?=F*x^1+(H/F*)2 L镜头的球差对测量有很大影响，所以测出的焦距值是近似值. C测量人员的技术和对E,Y1,Y2,Y1*,Y2水测量的准确性非常重要,否则测 出的焦距值将远远偏离真正值,而不能相信和使用. d焦距的准确测量,必须在光具座上用其它方法进行. j为了用这种方法测量，必须有以下设备:简易导轨，夹持器，白色屏幕，有 毫米刻度的物，精度为0.01mm的长度量测仪器. E要多次重复量测，取平均值. 星点检验 (一)原理 星点检验法是对光学系统进行像质检验的常用方法之一，在光学 系统设计，制造及使用中,人们关心的是其像质，並希望将像质与各种影响 因素联系起来，借以诊断问题，提出改进措施，星点检验在一定程度上可 胜任上述工作. 光学系统对非相干照明物体或自发光物体成像时，可将物光强分 布看成是无数多个具有不同强度的独立发光点的集合，每一个发光点经 光学系统后，由于衍射和像差以及工艺庇病的影响,在像面处得到的星点 像光强分布是一个弥散斑,即点扩散函数(PSF). 像面光强分布是所有星点像光强的叠加结果?因此，星点像光强 分布规律决定了光学系统成像的清晰程度，也在一定程度上反映了光