第2章(zm)光电探测器的物理基础.ppt

* 四. 其他参数 1．量子效率η（λ） 2．线性度 * 1．量子效率??(?) 量子效率是评价光电器件性能的一个重要参数，它是在某一特定波长上每秒钟内产生的光电子数与入射光量子数之比。 则对应的每秒产生的光子数为： 单个光量子的能量为 某一波长的辐射通量为 * 若IS为信号电流，q为电子电荷，每秒产生的光电子数为: ??(?) 反映的是入射辐射与最初的光敏元的相互作用。对于有增益的光电探测器(如光电倍增管等)，会远大于1，此时一般使用增益或放大倍数这个参数。 因此量子效率为： （实际情况） (理论上) 入射一个光子就能发射一个电子或产生一对电子一空穴对 * 2．线性度 线性度是描述探测器的光电特性或光照特性曲线输出信号与输入信号保持线性关系的程度。即在规定的范围内，探测器的输出电量精确地正比于输入光量的性能。在这规定的范围内，若探测器的响应度是常数，这一规定的范围称为线性区。 光电探测器线性区的大小与探测器后的电子线路有很大关系。因此要获得所要的线性区，必须设计有相应的电子线路。 线性区的下限一般由器件的暗电流和噪声因素决定，上限由饱和效应或过载决定。 线性区还随偏置、辐射调制及调制频率等条件的变化而变化。 * 线性度是辐射功率的复杂函数．是指器件中的实际响应曲线接近拟合直线的程度，通常用非线性误差δ来度量： 式中为实际响应曲线与拟合直线之间的最大误差；I2、I1分别为线性区中的最小和最大响应值。 在光电检测技术中，线性度是应认真考虑的问题之一，应结合具体情况进行选择和控制。 * * * 例：已知某探测器的面积为3×4cm2，D*=1011cmHz1/2w-1，光电仪器的带宽为300Hz，该仪器所能探测的光辐射的最小辐射功率？ 思 考 题 * 例：已知某探测器的面积为3×4cm2，D*=1011cmHz1/2w-1，光电仪器的带宽为300Hz，该仪器所能探测的光辐射的最小辐射功率？ 解：由D*的定义： 当Vs/VN=1时，得到最小探测功率， 其中：Ad=3×4cm2，D*=1011cmHz1/2w-1，Δ?=300Hz 代入，得该仪器所能探测的光辐射的最小辐射功率Pmin=6×1010W * 2.6? 光电探测器的噪声 * 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往由探测系统的噪声所限制。所以在精密测量、通讯、自动控制、核探测等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题。 * 光电探测系统包含光探测器、电子学系统(例如低噪声前置放大器等)、光学系统等。因此，系统在工作时，总会受到一些无用信号的干扰， 例如：光电变换中光电子随机起伏的干扰； 辐射光场在传输过程中受到通道的影响 背景光的干扰； 放大器引入的干扰等等。 一. 噪声的基本概念 探测器 噪 声 光子噪声 电路噪声 * 这些干扰及扰动主要来自两方面： (1)来自被研究系统的外部 (2)来自被研究系统的内部 * (1)来自被研究系统的外部 通常由电、磁、机械、杂散光等因素所引起，这种干扰绝大多数是“人为的”，如： ●电源50Hz干扰； ●工业设备电火花干扰等。 但这种干扰多具有一定规律性，采取适当的措施(如屏蔽、滤波、远离噪声源等)可以将其减小或消除。 * (2)来自被研究系统内部 来自被研究系统内部的材料、器件或固有的物理过程的自然扰动。 例如： ●导体中带电粒子无规则运动引起的热噪声； ●光探测过程中光子计数引起的散粒噪声等。 这些过程是随机过程，它既不能预知其精确大小及规律，也不能完全消除，但可以得知其遵循的统计规律、也可以通过一些措施予以控制。 * 噪声是一种平稳随机信号； 噪声一般采用长周期测定其均方值(即噪声功率)的方法，通常采用先计算噪声电压(电流)的平方值，然后将其对时间作平均，来求噪声电压(电流)的均方值，即： 二. 噪声功率谱密度 表示噪声电压(电流)消耗在1Ω电阻上的平均功率（噪声功率） 或 1. 噪声功率 * 表示频率在f与f+?f之间的噪声频谱分量的平均功率 Sn(f)表示单位频谱的噪声功率 噪声功率可由Sn(f)在频域上的积分得到： 傅立叶变换 2. 噪声功率谱密度 * 三. 噪声相关性 当系统存在多个噪声源时，必须考虑噪声源之间的相关性。若各个噪声源独立产生且在各个瞬间彼此无关时，称不相关；反之相关。 总噪声是这些噪声源的叠加：功率的叠加，同时考虑相关性。 * 四. 光电探测器噪声 在光电探测器中固有噪声主要有： ●热噪声 ●散粒噪声 ●产生—复合噪声(g—r噪声) ●温度噪声 ● 1/f噪