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第3 章 元器件的失效物理模型 (前言) 3-1 随时间退化的失效模型 3-1-1 基于激活能的模型 3-1-1-1 阿列尼乌兹和艾林的模型 3-1-1-1-1 阿列尼乌兹模型 3-1-1-1-2 艾林模型 3-1-1-2 温湿度条件下非密封器件的寿命模型 3-1-1-2-1 Peck 的模型 3-1-1-2-2 Shirley 的模型 3-1-1-2-3 其它的模型 3-1-1-3 电迁移模型 3-1-1-3-1 质量迁移的离子流方程 3-1-1-3-2 Black 的模型 3-1-1-3-3 直流条件下的通用寿命模型 3-1-1-3-4 交流条件下的模型 3-1-1-4 随时间退化的电解质击穿模型 3-1-1-4-1///Ref.