学术不端案例分析.pdfVIP

“汉芯事件”案例分析 ⼀、案例描述 “汉芯事件”是指2003年2⽉上海交通⼤学微电⼦学院院长陈进教授发明的“汉 芯⼀号”造假，并借助“汉芯⼀号” ，陈进又申请了数⼗个科研项⽬，骗取了⾼达 上亿元的科研基⾦。中国亟待在⾼新科技领域有所突破， ⾃主研发⾼性能芯⽚ 是我国科技界的⼀⼤梦想。陈进利⽤这种期盼，骗取了⽆数的资⾦和荣誉，使 原本该给国⼈带来⾃豪感的“汉芯⼀号” ，变成了⼀起让⼈瞠⽬结⾆的重⼤科研 造假事件。 所谓的“汉芯⼀号”采⽤国际先进的0.18微⽶半导体⼯艺设计，在只有⼿指指 甲⼀半⼤⼩的⼀个集成块上有250万个器件，⽽且具有32位运算处理内核，每 秒钟可以进⾏2亿次运算。经过国内权威专家验证，认为这⼀成果接近国际先 进技术，在某些⽅⾯的性能甚⾄超过了国外同类产品。[1]  “汉芯1号”于2003年2 ⽉26 ⽇正式发布，时任上海市副市长以及相关部门负责⼈都出席了当天的发布 会，在发布会上，由王阳元、邹⼠昌、许居衍等知名院⼠和“863计划”集成电路 专项⼩组负责⼈严晓浪组成的鉴定专家组作出了⼀致评定：上海“汉芯1号”及其 相关设计和应⽤开发平台，属于国内⾸创，达到了国际先进⽔平，是中国芯⽚ 发展史上⼀个重要的⾥程碑。[2]   此后被视为“汉芯1号”发明⼈的陈进⾃然也是