原子光谱分析法-2003.pptVIP

* * * * * * §3.3 原子吸收光谱分析的定量方法 定量分析方法 标准曲线法 标准加入法 * 配制一组含有不同浓度被测元素的标准溶液，在与试样测定完全相同的条件下，按浓度由低到高的顺序测定吸光度值。绘制吸光度对浓度的校准曲线。得回归方程A=a+bC，测定试样的吸光度，代入方程求出被测元素的含量。 A C Cx Ax O 标准曲线 一、标准曲线法 * 一. 标准曲线法 标液配制注意事项： 合适的浓度范围；标样和试样的测定条件相同；扣除空白；每次测定重配标准系列。 水中痕量汞的标准曲线 曲线弯曲 基体成分复杂怎么办？ 适用于组分简单样品 * 二. 标准加入法 适于基体复杂试样，难于配制与样品组成相似标准溶液 （1）一次标准加入法 取两分相同量的被测试液，其中一分加入一定量的标准溶液，稀释到相同体积后测定吸光度。 A B 样品 样品 标液 * 二. 标准加入法 根据吸收定律，可得： * （2）作图法 取四份以上体积相同的试液（cX），第一份不加待测物的标准溶液（c0），第二份开始，依次按比例加入不同量的待测物的标准溶液（cO），定容至同一体积后浓度依次为： cX ， cX +cO ， cX +2cO ， cX +3cO ， cX +4 cO …… 分别测得吸光度为：AX，A1，A2，A3，A4……。 以A对浓度C做图得一直线，再将该曲线外推至与浓度轴相交。交点至坐标原点的距离Cx 即是被测元素的浓度。 * 1.待测元素的浓度与其对应的吸光度应呈线性关系； 2.外推曲线至少应有四个试验的点； 3.可消除基体影响，但不能消除背景吸收影响； 4.曲线斜率较低则误差较大。 使用标准加入法要注意的问题： * 最佳实验条件选择完成后并不意味着测定的准确无误，因为实际样品的组成复杂，可能存在着各种干扰。 干扰：原子吸收测量过程中有些因素会使原子吸收信号降低或增大，导致测量结果偏低或偏高的现象称为干扰。 二、干扰及其消除 * 原子吸收光谱法的干扰分为： 物理干扰；--基体干扰 化学干扰； 电离干扰； 光谱干扰。 干扰的种类 二、干扰及其消除 * 产生原因：由于溶液的物理性质（如粘度、表面张力、密度和蒸气压等）的变化而引起原子吸收强度下降的效应。 产生的过程：物理干扰主要发生在试液抽吸过程、雾化过程和蒸发过程。 干扰种类：物理干扰是非选择性干扰，对试样各元素的影响基本相同。 消除方法：消除物理干扰的主要方法是配制与被测试样相似组成的标准溶液或采用标准加入法。 1.物理干扰及消除方法 * 产生原因：由于在样品处理及原子化过程中，待测元素的原子与干扰物质组分发生化学反应，形成更稳定的化合物，从而影响待测元素化合物的解离及其原子化，致使火焰中基态原子数目减少，而产生的干扰。 类型：化学干扰是一种选择性干扰。  2.化学干扰及消除方法 * 消除（加入干扰抑制剂）： 1. 加入释放剂：SO42-、PO43-对Ca2+的干扰----加入La、 Sr---释放Ca2+； 2. 加入保护剂（配合剂）: PO43-对Ca2+的干扰---加入EDTA---CaY(稳定但易破坏) 。 Al对Ca、Mg的干扰可用8-羟基喹啉作保护剂 3. 加入缓冲剂：干扰物质达到一定浓度时，干扰趋于稳定，Al抑制Ti的吸收。Al浓度大于200μg/mL，吸收趋于稳定。在样品和标样中同时加入。 * 产生原因：在高温下，原子电离成离子，而使基态原子数目减少，导致测定结果偏低，此种干扰称电离干扰。 电离干扰主要发生在电离势较低的碱金属和部分碱土金属中。 消除方法：消除电离干扰最有效的方法是在试液中加入过量比待测元素电离电位低的其他元素（通常为碱金属元素）。 如大量KCl 的加入可抑制Ca的电离。 K → K+ + e Ca++ e → Ca 3. 电离干扰 * 产生原因：光谱干扰是由于分析元素吸收线与其他吸收线或辐射不能完全分开而产生的干扰。 干扰类型：光谱干扰包括谱线干扰（吸收线重叠；光谱通带内存在的非吸收线）和背景干扰两种。 3.光谱干扰及消除 消除方法： 吸收线重叠 ——另选其他无干扰的分析线进行测定或预先分离干扰元素。 光谱通带内存在的非吸收线——减小狭缝 或适当减小灯电流。 * 1、产生原因：