长沙TOFD课件学员.ppt

( * * 深度校准工具 A扫 D-scan PCS t0 t0 T c LW BW PCS（探头入射点间距离）, 壁厚, 速度, 探头延时, 横向波或 内壁反射信号 不需要知道所有的参数 缺陷测量工具 A扫 D扫 指针 t1 t2 l P t1,t2 ?自动计算d1, d2 和 h d1 d1 h 内置的计算器 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.11 TOFD检测的盲区 盲区：是指TOFD技术实施检测时，被检体积中不能发现缺陷的区域。 上表面盲区就是直通波信号所覆盖的深度范围。由于上表面缺陷的信号可能隐藏在直通波信号之下，因此相当于直通波信号的深度是盲区。 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.11 TOFD检测的盲区 决定上表面盲区深度的因素： 1、直通波脉冲时间宽度 2、探头带宽与频率 3、探头中心间距（PCS值） 一般情况盲区占检测厚度的15~25mm。 减小上表面盲区的措施：减小PCS，窄脉冲探头，直通波去除。 例如对40mm厚焊缝，按照正常规范选择检测参数，其盲区大致为5~15mm。 5MHz探头，周期0.2μs，PCS=100mm，工件厚度40mm，直通波为两倍周期0.4μs，则盲区为11mm。 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.11 TOFD检测的盲区 下表面盲区：主要是指轴偏离底面盲区，即偏离两探头中心位置的底面区域存在的盲区。 按TOFD检测一收一发的探头布置，超声衍射信号传输时间相等位置为一个椭圆轨迹。如果缺陷在椭圆轨迹以下区域，则信号出现在底面反射波之后，因此无法检出。 偏离焊缝中心的缺陷很难在D-扫描的底面反射信号中看到，可能被底面回波信号掩盖。 在传播时间相同轨迹上任意一点的信号都具有相同的时间 检测不到 的缺陷 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.11 TOFD检测的盲区 下表面盲区距中心线越远，盲区高度就越大。缺陷位置的不确切性导致误差的增大，绝对深度的最大误差低于壁厚8%。内部（小）缺陷的高度估计误差是可以忽略的 。 发射探头 接收探头 S S t2 t1 相等时间的轨迹 (t1+t2=2t) dmin dmax 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.12 TOFD技术的精度和可靠性试验 1、裂纹高度尺寸测量试验 1979年M.G.Silk公布了利用TOFD技术对缺陷高度尺寸测量试验的数据，用于试验的缺陷为8~15 mm之间疲劳裂纹。 图中用实线给出裂纹的 实际高度，TOFD测量 值用圆圈表示，均方根 （RMS）误差为0.3 mm， 证明应用TOFD测量裂纹 高度是很准确的。 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.12 TOFD技术的精度和可靠性试验 2、缺陷尺寸测量精度试验 表1.1 衍射时差技术对非平面缺陷的测量误差 实验结果表明，衍射时差技术检测精度比其它方法更高，尤其在测量缺陷高度尺寸时，使用衍射时差技术可以得到误差小于1mm的检测精度。 测量项目 平均误差 标准差 试样说明 深度位置测量 0.35mm 1.3mm 24个缺陷 长度尺寸测量 3% 7.7% 34个线形缺陷，长度40~121mm 长度尺寸测量 7.1% 40% 14个密集缺陷，长度1.5~7.2mm 高度尺寸测量 -0. 32mm 1.0mm 24个缺陷1.5~7.2mm 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.12 TOFD技术的精度和可靠性试验 表1.2 衍射时差技术对平面缺陷的测量误差 TOFD技术对缺陷高度尺寸的测量精度σ＝1.8mm，试验的缺陷高度为1.5mm～3mm之间的接近衍射时差技术的最小识别能力的缺陷，对这些缺陷的检测偏差稍大。即使如此， TOFD技术的测量精度也高于其它各种检测方法的精度（标准偏差σ＝2.4~5.0mm）。 测量项目 平均误差 标准差 试样说明 深度位置测量 0.56mm 1.8mm 25个缺陷 长度尺寸测量 5.6% 12% 43个密集缺陷，长度40~121mm 高度尺寸测量 -0. 52mm 1.8mm 106个缺陷 1.2 TOFD技术的基本知识1.2.12 TOFD技术的精度和可靠性试验 3、TOFD技术与基于波幅检测技术在缺陷尺寸测量精度上的比较 1989年Ammirato和Willetts公布了基于波幅技术和TOFD技术对缺陷尺寸测量的试验结果。 试件中的三类缺陷通常出现在 核电设备上，第一类缺陷位于 碳钢上堆焊不锈钢的过渡层的