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X射线系列实验 徐天昊/0519029 一、实验简介 调较测角器的零点。 测定LiF晶体的晶面间距。 用电离腔探测X射线。 测定X光在铝中的衰减系数，并验证Lambert定律。 研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关系。 检验Moseley’s Law。 Planck常数h的测定。 二、实验内容 调校测角器的零点 实验中会出现测角器的零位偏离很明显，有什么办法可以较快地调零？ 靶台偏离较大时，即使直射时信号也会很小，大概只能看到200/s左右的信号，此时可确定靶台偏离较大，需重新调节。 实验中若是探测器偏离较大时，可用如下办法较快的调零。 不放晶体，让X-ray直射sensor，调sensor 至信号最大值，此时大概为sensor的零点。 放NaCl晶体并将sensor转过14.4度，调target获得最大峰值，找到后用coupled模式回转7.2度，归零。 再进行细调，至最终零点。 二、实验内容 测量LiF晶体的晶面间距 由2dsinθ=kλ对实验中测得数据进行拟合有y=Bx，其中d=B=（0.229±0.0003)nm NaCl和LiF属于面心立方晶系，实验中测得的d 应为（0 0 1）方向上的a/2。 对于“3β”衍射，可根据测得d算出晶面间距为 d=λb/2sinθ=4sin60*d001 有可能为（1 1 1）方向的衍射 即可通过变化target和sensor的角度，通过测不同的晶面间距，来确定晶体的结构。 二、实验内容 验证Lambert’s Law，测在铝中的衰减系数 做d~LnR的图象,二 者呈很好的线形关系 R=0.99998 二、实验内容 验证Lambert’s Law，测在铝中的衰减系数 在电压为21KV及18KV时测量并对结果拟合： 二、实验内容 验证Lambert’s Law，测在铝中的衰减系数 用公式y=A1*exp(-x/T1)+y0进行拟合通过对两组实验结果的比较，发现都存在一定误差，但在电压为21kv时的μ值更接近标准值。 二、实验内容 研究x光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关系 二、实验内容 研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关系。 为求α，先用软件编辑公式，找出τa~T对应关系，再用公式Z=a*（λ）α次方进行拟合 二、实验内容 研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关系 Cu Zr 二、实验内容 研究X光在材料中的衰减系数与波长及材料的原子序数的关系 观察图形，数据点的偏差还是很大的，且在某些点τa有跳变。 改进方法 为了减小误差，可使Δt变长。 二、实验内容 用电离腔探测X射线 高压与饱和电流的关系(I=1mA)： 从图中分析： 直线反向延伸，并未 过原点，且Uo=35KV 的y值小于Uo=25KV 的y值。这应该是由零 电流时Uco的值不稳定 所造成的 二、实验内容 用电离腔探测X射线 测量饱和离子电流Ic随X光管流I的变化(U=35kV,Uc=250V) 饱和电流与管流呈线性关系 这是因为X射线多少决定了 空气中可电离的离子和电子 的多少，由之前实验可知： Uc=250V导致所有带电粒 子均能碰到极板，因此应该 呈线性关系 。 二、实验内容 用电离腔探测X射线 测量饱和离子电流Ic随X光高压U的变化 实验结果用指数关系进 行拟合效果如图 。 R`2=0.99053 三、实验总结 涉及晶体的步骤中的误差主要来自于晶体自身，有的凹凸不平，有的已经有氧化现象。 仪器自动操作，电脑软件采集数据为实验很大程度上减少了误差。 实验仪器的精确也保证了对数据处理得出结论的有效性。 * * 0.99978 0.99635 R2 1.9487±0.0212 1.1112±0.0336 μ 0.51315±0.00565 0.89993±0.02804 T1 2721.5 3944.4 A1 18kv 21kv U 2.39771±0.06745 2.39888±0.07249 α 0.98435 0.97684 R2 2.39771±0.06745 2.39888±0.07249 b 0.05295±0.01448 0.01583±0.00481 a Zr Cu Z=a*（λ）b *