品管七大手法讲解ppt102.ppt

94 (h) 有8點在中心線之兩側,但C區並無點子者(i) 連續14點交互著一升一降者 95 96 (j) 連續15點在中心線上下兩側之C區者 97 (k) 有1點在A區以外者 98 1.品管開具制程異常聯絡單. 2.會簽品工、制工、模修相關人員分析原因及給出對策. 3.品管人員將詳細資料寫入改善行動記錄表中. 4.QE依會簽結論作改善跟蹤. 5.品管重新量測,描點在管制狀態才可繼續生產. 發現為非管制狀態時,應填寫  “Corrective Action Record”: 99 DATE SPC SHUT DOWN REASON ROOT CAUSE CORRECTIVE ACTION RESULT VERIFICATION REMARK FORMULA X= ￡ Xi/n R= ￡ Ri/n UCL x= X+A2R LCL x=X-A2R UCL r=D4R LCLr=D3R r=R/d2 CPK= MIN{(UCL-X)/3r, (X-LCL)/3r} N A2 d2 D4 D3 2 1.88 1.13 3.27 0 3 1.02 1.69 2.58 0 4 0.73 2.06 2.28 0 5 0.58 2.33 2.12 0 100 * * * * 使用控制圖的准備﹕ 1.建立適合于實施的環境(確保統計方法公正有效). 2.定義過程(根據不同過程不同因素的關系理解過程). 3.確定待管理的特性﹕ a.顧客的需求. b.當前的潛在問題區域. c.特性之間的相互關系(統計上之相關性=因果關系). 62 4.確定測量系統﹕ 測量工具和方法必須保証產生准確和精密的結果. 不精密 不准確 精密 准確 63 量具重復性和再現性(%RR)可接受條件﹕ 誤差10%------量具系統可接受. 誤差為10%到30%之間------考慮到維修費用﹑量具成本等可能是可接受的. 誤差30%------量具系統需要改進. 64 重復性(設備變差)﹕EV=R K1 再現性(試驗人員變差)﹕AV= (X K2) -EV /nr n-----零件數量. r-----試驗次數. RR= (EV) +AV 零件變差PV=Rp K3 總變差TV= (RR +RV ) 2 2 2 2 2 2 65 5.使不必要的變差最小. 不用控制圖就能糾正的問題(如模具定位松動﹐ 架模不正等)應盡量避免. 66 使用控制圖改進過程之基本步驟﹕ 1.收集數據. 2.控制(確定是否存在特殊原因引起的變差). 3.分析與改進. 67 數據的分布可按下列特性區別﹕ 位置 范圍 分布寬度 范圍 形狀 范圍 68 控制圖上數據點的分析﹕ 1.超出控制限的點﹕(一點或多點) 表明存在下列情形之一﹕ a.控制限或描點錯誤. b.過程已改變﹐或是在當時的那一點是一種 趨勢的一部分. c.測量系統發生變化(不同量具或檢驗員). 69 2.鏈﹕ *連續7點在平均值一側. *點連續上升或下降. 與過程均值有關鏈通常表明存在下列情形之一. *過程均值已改變------也許還在變化. *測量系統已改變(飄移﹑偏倚﹑靈敏度等). 70 3.明顯的非隨機圖形﹕ 大約2/3的描點應落在控制限三分之一的中間區域內(68.26%) 大約1/3的描點落在2/3的兩邊區域(31.47%) Ucl X Lcl +3r +2r +1r -1r -2r -3r 71 如果大大超出2/3點落在過程平均值附近﹐則可能﹕ 1.控制限或描點計算錯或描錯或重新計算錯. 2.過程或取樣方法分層﹐每個子組包含以兩個或多 個具有不同均值的過程流的測量值. 3.數據已被編輯. Ucl X Lcl +3r +2r +1r -1r -2r -3r 72 如果大大少于2/3點落在平均值附近﹐則可能﹕ 1.控制限或描點計算錯或描錯. 2.過程或抽樣方法造成連續的子組中包含兩個或多個不同過程流的測量值. Ucl X Lcl +3r +2r +1r -1r -2r -3r 73 X-R Chart原理示意圖: 規格上限 管制上限 規格值 (中心值) 管制下限 規格下限 ● ●