第二篇 材料电子显微分析;第十四章 电子背散射衍射分析技术;电子背散射衍射(EBSD)技术,开始于20世纪80年代,该技术是基于扫描电子显微镜为基础的新技术
利用此技术可以观察到样品的显微组织结构, 同时获得晶体学数据,并进行数据分析
这种技术兼备了 X 射线统计分析和透射电镜电子衍射微区分析的特点, 是X射线衍射和电子衍射晶体结构和晶体取向分析的补充
电子背散射衍射技术已成为研究材料形变、 回复和再结晶过程的有效分析手段,特别是在微区织构分析方面的应用;EBSD的发展大致经历以下几个阶段:
1928年,日本学者Kikuchi在透射电镜中,首次发现了带状电子衍射花样,并对此衍射现象进行解释, 故称这种线条花样为菊池花样
1972年,Venables和Harland在扫描电镜中,得到了背散射电子衍射花样
20世纪80年代后期, Dingley得到了晶体取向的分布图。并成功地将EBSD技术商品化
20世纪90年代初, 成功研究出自动计算取向、 有效图像处理以及自动逐点扫描技术,之后能谱分析和EBSD分析的有效结合使相鉴定更加有效和准确
2000年以后, EBSD标定速度的大幅提升,加快了EBSD的发展和推广;第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学基础;第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学基础;第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学基础;第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学基
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