电子元器件失效模式总结.pdf

元器件的失效模式总结 Beverly Chen 2016-2-4 一、失效分析的意义 失效分析（Failure Analysis ）的意义在于通过对已失效器件进行事后检查，确定失效模 式，找出失效机理，确定失效的原因或相互关系，在产品设计或生产工艺等方面进行纠正以 消除失效的再次发生。 一般的失效原因如下： 二、失效分析的步骤 失效分析的步骤要遵循先无损，后有损的方法来一步步验证。比如先进行外观检查，再 进行相关仪器的内部探查，然后再进行电气测试，最后才可以进行破坏性拆解分析。这样可 以避免破坏性的拆解破坏证据。拿到失效样品，首先从外观检查开始。 1. 外观检