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第 卷 第 期 液 晶 与 显 示 ,
27 6 Vol.27No.6
年 月 ,
2012 12 ChineseJournalofLiuidCrstalsandDislas Dec.2012
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文章编号: ( )
10072780201206084705
杂光对三线阵相机光学系统成像的影响
田铁印,王 红,吴国栋
(中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所,光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室,
吉林 长春 , : )
130033Emailtiantiein ciom .ac.cn
y @ p
摘 要:针对高成像质量三线阵测绘相机杂光导致相机成像质量下降的问题,文章根据光学系统的设计结
果,对相机的杂光系数进行分析与计算,提出合理的杂光抑制措施;利用 ZEMAX软件和 LihtTools软件,分
g
析了杂光对三线阵立体测绘相机成像的影响,通过模拟计算得到杂光系数小于 5%的理论结果;实验检测了
相机实际杂光系数,得到最大杂光系数小于 6%的实测结果,模拟了杂光影响下的光学系统图像,证明了杂光
抑制措施的有效性和杂光影响下成像分析的合理性。
关 键 词:三线阵;测绘相机;模拟成像;杂光分析
中图分类号: 文献标识码: : /
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