GRR目视系统与CPK制程能力指数.pptVIP

變異分析方法是一種標準的統計學的技術, 它可用作分析量測誤差或進行量測系統其他變異原因的探究. 特性: 隨機化(Randomization) 統計的獨立性(Statistical Independence) 一.量測系統變異分類: 工件的變異 操作者的變異 操作者與工件的相關性 量測儀器的變異 GRR變異分析(量測系統的變異) Repeatability - Gauge capability (Equipment Variation) Reproducibility- Operator capability (Appraiser Variation) Operator Operator by part 樣品要求: 隨機地選取正常的生產過程中最大范圍的樣品(包括超出規格的樣品) 儀器要求: 確保量測儀器是依照正確的國際認可 的最新標准得到了校正 量測儀器應能辨別1/10的制程變化 二、GRR的執行步驟 来自 中国最大的资料库下载 GRRCPK 精密量測實驗室:肖貴喜 華南檢測中心 CPK 精密量測實驗室: 肖貴喜 2001/04/05 華南檢測中心 cpk cpk: Capability index of process 製程能力指數 目的: 評估製程滿足實際尺寸要求的能力,並以此統計分析結果確定生產能力是否滿足大批量生產之要求 ISO9000標準推薦五大統計技術: 實驗設計和析因分析 方差分析和回歸分析 顯著性檢驗 質量控制圖和累積技術 統計抽樣 數理統計理論 依數理統計理論,當生產過程穩定時,絕大多數計量值特性服從常態分佈(不合格品數服從二項分布,缺陷數服從泊松分布,而二項分布.泊松分布的極限分布又均是常態分佈) 對一個正常的過程參數(比如:尺寸)隨機抽樣,(計量值)數據應呈現常態分佈(正態分佈,或名高斯分布) 常態分布的特點: 非負性 歸一性 對稱性 依概率理論計算,99.73%的樣本將落在+/3σ的范圍內,只有很小的概率(0.27%)不在+/3σ的范圍內,由於小概率事件一般不會發生,故可認為不會有尺寸在規格之外 Cp及Cpk(Capability index of process)即是依此理論對製程能力予以評估 F(x) x 6σ 3σ -3σ 2? ? 1 e - (x-?) 2 ? 2 2 F(x)= 標準差的計算 標準差主要是用以衡量觀測資料與平均數之間的差異量數。 根據一組樣本估計其標準差。 Cp:製程能力 Cp(製程能力):Cp=TOL/6σ 設計公差與制程整個變異的比值,它反映的是設計的極限指數.是對制程潛在能力的測定,一個高的Cp指數表明制程具有好的潛在的再制能力 反映數據(尺寸)的波動范圍大小,Cp數值越大,尺寸波動越小,製程能力越充足. Cpk:製程能力指數 Cpk(製程能力指數):反映製程滿足實際尺寸要求的能力,Cpk數值越大,製程越能保證實際尺寸的加工要求, 規格確定的中心值與制程變異相關聯的狀況,它是反映制程實際能力的指數.一個較高的Cpk指數表明制程實際的生產再制能力在要求的范圍內. Cpu=(USL-AVERAGE)/3σ Cpl=(AVERAGE-LSL)/3σ Cpk=MIN(Cpu,Cpl) (對形位公差,尺寸不可能小于設計下限值,因而Cpk=Cpu) Cp=Cpk (僅在實際加工尺寸平均值與設計中值相等時Cp=Cpu=Cpl=Cpk) 樣本選擇與結果判定 用作量測分析的產品尺寸和樣本大小的選取由供應商與客戶協商確定. 樣本應有足夠大小,以減少抽樣誤差 對製程的判定: Cpk1.33 製程能力不足 1.67=Cpk=1.33 製程能力滿足 Cpk1.67 製程能力過足 GRR 精密量測實驗室: 肖貴喜 2001/4/1 Gauge Repeatability and Reproducibility 華南檢測中心 目錄 量測系統構成 量