WISL-SP-09-01 测量系统分析作业规范.docVIP

更改：0 附录B GRR分析研究方法 编号：SP1602 浙江有限公司 ISO/TS16949质量体系 作业指导文件 测量系统分析作业规范 文件编号 WI/SL-SP-09-01 版本版次 A/0 目的 测量系统变差可以影响系统产生的结果，对这些变差进行分析可以减少或消除它们对测量系统产生的影响。本程序提供了一个模式，用以分析和评估现行测量系统是否满足规定要求及是否需要改进。 范围 本程序适用于公司所有工序检测器具，包括过程能力分析、统计过程控制、特殊过程监控的每个检测器具； 术语和定义 测量系统：用来对被测特性赋值的操作，程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。 受控：只出现随机、普通原因变差的过程状态。 非受控：指各种特殊原因未消除的过程状态。这种状态的证据 是控制图上点的出现在控制限之外或控制限内的图形并非随机的。 容差：为了维持配合、形式和功能，与标准值或公称值相比允许的偏差。 职责和权限 质保部负责测量系统分析及操作人员测量技能培训，相关部门给予配合。 工作程序 研究计划、规则和方法 质保部在每年制定年度测量系统分析计划，批准后下发相关部门； 制定GRR分析研究规则，见附录A，包括： 分析研究前必须完成的所有准备工作 确定分析方法 规定评价人数 样品数量和重复测量次数 量具分辨率规定 确定测量范围等。 制定GRR分析研究方法，见附录B，包括： 测量系统各变差的确定 浙江有限公司 2007-1-08 批准 2007-1-10 实施 1 WI/SL-SP-09-01 　　　版次 A/0 系统产生变差可能原因分析 操作步骤 结果分析（图表/数值分析） 接收准则等 其它分析方法； 实施 按附录A《GRR分析研究规则》和附录B《GRR分析研究方法》进行操作，通过计算和图表进行分析研究，评价现行测量系统是否被允许用于预期用途； 相同检测器具作为一种系统，每年至少进行一次分析，如一次不合格经过分析查找原因并改进后，可再分析一次，两次不合格则判定该系统不合格； 当测量系统合格时，可以采用此测量系统的检验器具进行检验； 结果分析 当图表分析为非受控或R＆R≥30％时，质保部应组织生产部有关人员共同分析原因： 属操作人员测量方法问题，应重新培训，合格后方可继续从事检验工作； 属器具问题，质保部重新选择、分析直至满足规定要求后方可继续使用； 当测量系统变更（采用新器具/新检验人员/新操作人员）时，需重新分析； 当顾客对产品的更改涉及到测量系统改变时，需重新进行测量系统分析； 产品质量要求变化时，如测量系统不能满足要求，由质保部决定采用新测量器具并须进行测量系统分析，符合要求时才可投入使用； 记录 测量系统研究分析计划 测量系统分析数据表 测量系统GRR报告 计数型量具研究表 附录 附录A GRR分析研究规则 附录B GRR分析研究方法 2 WI/SL-SP-09-01 　　　版次 A/0 附录A：GRR分析研究规则 序号 项目 规则内容 １ 确定使用的分析方法 根据公司的工艺特点，对计量器具采用量具R＆R分析方法；对计数型量具采用“小样法”分析方法 2 规定评价人数，样品数量和重复测量次数 根据公司实际情况规定： 参加评价人数为三人，分别用A、B、C表示。 样品数量取十个，分别用1－10编号。 重复测量次数为三次。 评价人约定 评价人应从日常操作该量具的人中选取，现行检验人员或生产操作人员中随机选取三人。 样品的约定 样品必须从过程中选取并代表整个工作范围，现分别从三个生产班组中随机抽取。 3 量具分辨率规定 量具分辨率应小于或等于容差和过程变差最小值的10％。 4 测量范围 测量前应对使用的量具进行校准。 测量时按随机顺序进行，以确保整个分析过程中产生的任何漂移或变化将随机分布。 评价人约定 评价人应采用盲测形式（即评价人应不知零件编号）以避免可能的偏倚。 读数时应尽可能的估计到最接近的数字，按数值修约中单舍双入规则将估计值圆整。 每位评价人应采用相同的方法和步骤来获得读数。 研究工作应由知其重要性且仔细认真的人员进行。 样品的约定 当忽略零件内变差（圆度、锥度、平行度、直线度等）时，应在零件上作出标记，以指示要测出全部读数的点、线、面位置。 当零件内变差相对被测特性不可忽略时，应在零件0~360°方向上测量出最大值和最小值。 3 WI/SL-SP-09-01