WISL-SP-09-02.02 千分尺内校操作指导书.docVIP

ISO/TS16949质量体系 作业指导文件 Operating Manual of ISO/TS16949 Quality System 文件编号 WI/SL-SP-09-02.02 版本版次 A/0 千分尺内校作业指导书 检定范围：本公司所有的外径千分尺。 检定环境：温度20±3℃ 检定时机：依检定计划进行。 检定引用参考文件：国家计量检定规程JJG 21-95。 检定项目： 序号 检定项目 主要检定方式/设备 1 外观 目测 2 各部分相互作用 试验与目测 3 测力 测力计 4 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线距离 ＿ 5 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 ＿ 6 工作面的平面度 量块 7 两工作面的平行度 量块 8 示值误差 量块 检定步骤： 外观 千分尺及校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，刻线应清晰、均匀。 千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于25mm的千分尺应附校对用的量杆。 千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。 使用中和修理后的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。 各部分相互作用 微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。 有限公司 2007-3-01 批准 　　　　　　　　　2007-3-01 实施 1 WI/SL-SP-09-02.02　 　　　 版次 A/0 可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用可靠，锁紧装置的作用应切实有效。 带表盘的千分尺，表针移动应灵活、无卡滞现象。 测力 千分尺的测力（系指工作面与球面接触时所作用的力）应在6N~10N范围内。 用分度值不大于0.2N的专用测力计检定，检定时使工作面与测力计的球工作面接触后进行。 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线距离 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线距离不应大于0.4mm。 检定时在微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。 工作面的平面度 零级外径千分尺工作面的平面度不大于0.6μｍ，1级外径千分尺工作面的平面度不大于1μｍ，壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μｍ，板厚千分尺工作面的平面度应不大于1μｍ。 工作面的平行度 使用量块检定，依次按尺寸约为上下限的中间尺寸，间隔为微分筒1/4转的四组量块进行，每组量块以其同一部位放入工作面间的4个位置上按微分筒分别读数，并求出其差值，以四组差值中最大值作为被检千分尺两工作面的平行度。 外径千分尺锁紧装置紧固与松开时千分尺两工作面的平行度应不大于表1规定： 表1 测量范围 平行度（μｍ） 0级 1级 0~25 1 2 25~50 1.3 2.5 50~100 1.5 3 100~150 ─ 4 150~200 ─ 6 200~300 ─ 7 300~400 ─ 8 400~500 ─ 10 2 WI/SL-SP-09-02.02　 　　　 版次 A/0 6.8 示值误差 用量块进行检定。各种千分尺的受检点应均匀分布于测量范围的5点上，如表2所示。各点上的示值误差均不超过表3中的规定。 　　　　　　　　　　　　　表2 测量范围(mm) 受检点尺寸(mm) 0~10 2.12 4.25 6.37 8.50 10 0~15 3.12 6.24 9.37 12.50 15 0~25 5.12 10.25 15.37 20.5 25 或 5.12 10.24 15.36 21.5 25 大于25 A+5.12 A+10.25 A+15.37 A+20.5 A+25 或 A+5.12 A+10.24 A+15.36 A+21.5 A+25 注：A为千分尺的测量下限 表3 测量范围 (mm) 示值误差（μｍ） 0级 1级 0~100 ±2 ±4 100~150 ─ ±5 150~200 ─ ±6 200~300 ─ ±7 300~400 ─ ±8 400~500 ─ ±10 6.8.2 测微头各点相对于零点的示值误差不超过±3μｍ。 7．检定结果处理：经检定合格的贴上合格证，并填写检定记录。不合格的进行修理然后再检定。 3