对于极关键应用中的安全装置，务必定期检查ADC是否正常.PDFVIP

Freescale Semiconductor Document Number: AN5015 应用笔记 Rev 0, 09/2014 MPC574xP ADC 自检 作者: Arun Kumar, Sanjoy Dey, 和 Jamaal Fraser 内容 1 介绍 1 介绍 1 2 ADC 自检功能介绍1 逐次逼近型寄存器（SAR ）模数转换器（ADC ）支持内建 3 ADC 自检参数 2 的运行时硬件自检，以验证ADC 的运行情况。ADC 的自 检功能支持电源完整性和结构组件的完整性测试，如电容、 4 基于软件的比较考量 3 开关、比较器等。该功能的目的是捕捉和标记导致ADC 功 5 示例代码 5 能失效的任何运行时灾难性错误。ADC 自检包括两种不 同的自检： • 电源自检：也称为算法S ，用于验证带隙、电源 （VDD_HV_ADV ）和参考（VDD_HV_ADR ）电压 • 电容自检：也称为算法C ，用于检测电容阵列的开路 或短路 本文档详细描述了运行ADC 自检功能所需的补充信息。 同时提供了两个用例样本，帮助用户了解如何对ADC 自检 功能编程。 2 ADC 自检功能介绍 对于极关键应用中的安全装置，务必定期检查ADC 是否正 常工作。为了达到该目的，自检功能已整合到了ADC 内 部。自检采用模拟看门狗来验证自检转换的结果。这些看 门狗的上下限阈值存储在UTest flash 区域。运行自检之 前，用户必须将这些值从UTest flash 复制到自检模拟看门 © 2014 Freescale Semiconductor, Inc. ADC 自检参数 狗寄存器（ADC_STAWxR ）或直接将它们的值编程到 ADC_STAWxR 寄存器。ADC 还具有看门狗定时器，可用于 监测自检算法的序列并确保其在安全的时间段内完成。 ADC 内部已经实现了两种自检算法： • 电源自检（算法S ）：它包括内部带隙电压、ADC 供电电压和ADC 参考电压的转换。它包括应按顺序执行的三 步测试转换（步骤S0-S2 ）。 • 电容自检（算法C ）：它包括12 步测试转换，用于设置包括采样DAC 电容在内的电容元件。 为了完成自检，ADC 实现了以下功能： • 设置额外的专用自检通道 • 采用配置寄存器发送信号去调度自检算法 • 采用模拟看门狗寄存器监测转换后的数据，并标记ADC 输出端口的错误（故障收集和控制单元（FCCU ））以 防任何算法失败 参见以下的图 1 。 VDDA VREF Vbandgap VDDA 模拟 转换数据 SAR VREF 控制器 DAC 模拟 输入 电容 C S 自检